[发明专利]辉度测定方法、辉度测定装置以及采用该方法和装置的图像质量调节技术有效

专利信息
申请号: 201510334449.6 申请日: 2015-06-16
公开(公告)号: CN105306930B 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 村濑浩 申请(专利权)人: 宜客斯股份有限公司
主分类号: H04N17/02 分类号: H04N17/02;G01M11/00;H01L51/50;H05B33/10
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 梁海莲;余明伟
地址: 日本国东*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种即使显示面板的像素图像在照相机的成像面上彼此重叠也能够准确测定每个像素的辉度的辉度测定方法。基于与中心部分对应的画素的输出,计算表示像素图像的中心部分的辉度的中心曝光系数。基于与像素图像的周边部分对应的画素的输出,计算表示像素图像的周边部分的辉度的周边曝光系数。将显示面板的所有像素分成多组,接着依次将各组点亮,再用照相机成像,最后基于成像的图像、中心曝光系数以及周边曝光系数计算显示面板的所有像素的辉度。
搜索关键词: 测定 方法 装置 以及 采用 图像 质量 调节 技术
【主权项】:
1.一种辉度测定方法,其特征在于,其包括:校准步骤,使用设有固态成像传感器的照相机成像由点亮显示面板的预定像素而获得的校准图案,检测所述校准图案的图像显示在所述照相机的哪些画素上,并获得所述显示面板的像素和所述照相机的画素之间的对应关系;单一像素成像步骤,当所述显示面板的像素由所述照相机成像时,点亮所述显示面板的一个或多个像素,并通过照相机成像所述像素,使得每个像素图像覆盖所述照相机的成像面上的多个画素且所述像素图像彼此不重叠;曝光系数计算步骤,基于与所述像素图像的中心部分对应的一个或多个画素的输出,计算中心曝光系数,所述中心曝光系数表示在所述单一像素成像步骤中成像的所述像素图像的中心部分的辉度占整个像素图像的辉度的比例;基于与所述像素图像的周边部分对应的一个或多个画素,计算周边曝光系数,所述周边曝光系数表示所述像素图像的周边部分的辉度占整个像素图像的辉度的比例;所有像素成像步骤,将所述显示面板的所有像素分成多组,接着依次将像素点亮,并用照相机成像所述像素;以及辉度计算步骤,基于在所述所有像素成像步骤中成像的图像、在所述校准步骤中获得的所述显示面板的像素和所述照相机的画素之间的对应关系、所述中心曝光系数以及所述周边曝光系数,计算所述显示面板的所有像素的辉度。
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