[发明专利]一种实现时序测试的方法及装置有效
| 申请号： | 201510330900.7 | 申请日： | 2015-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN106328211B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 李为龙;陈之光 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实现时序测试的方法及装置，包括：向上偏拉输出至时序测试的时序测试的双倍速率同步动态随机存储器(DDR)的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最大参考电压值；向下偏拉输出至时序测试的DDR的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最小参考电压值；根据最大参考电压值和最小参考电压值，确定DDR是否满足时序测试要求。本发明方法根据最大参考电压值和最小参考电压值在DDR标准参考电压允许变换的范围，反过来确定DDR满足时序测试要求，避免了由于读写分离困难或存在对示波器自带选件和测试人员的业务能力的依赖，以及测试点不易点测的问题对时序测试造成的影响，提高了时序测试的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 时序 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种实现时序测试的方法，其特征在于，包括：向上偏拉输出至时序测试的时序测试的双倍速率同步动态随机存储器DDR的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最大参考电压值；向下偏拉输出至时序测试的DDR的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最小参考电压值；根据最大参考电压值和最小参考电压值，确定DDR是否满足时序测试要求。
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