[发明专利]一种高空机载X荧光实时分析仪

摘要

本发明涉及一种高空机载X荧光实时分析仪，包括激发源、采样膜、探测装置、电源、无线传输装置、处理器；其中，所述激发源包括固定连接的微型同位素X射线源和准直器；发射源发射出的射线照射在采样膜上，并反射至探测装置上；所述探测装置包括依次连接的微型硅漂移探测器、微型数字化多道谱仪，射线通过微型硅漂移探测器进入微型数字化多道谱仪；所述无线传输装置将探测装置处理过的信息发送至处理器中，所述电源为探测装置和无线传输装置提供电能。本发明所采用X荧光方法通过飞行器对高空排污口的重金属微粒样品实时快速检测，操作简单，测量实时快速，检测范围广，检测限低，实现对高空污染物的实时监测。

主权项

一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，包括激发源、采样膜、探测装置、电源（6）、无线传输装置（7）、处理器；其中，所述激发源包括固定连接的微型同位素X射线源(1)和准直器(2)；激发源发射出的射线照射在采样膜上，激发出采样膜上待测元素的特征X射线荧光，然后经探测装置收集；所述探测装置包括依次连接的微型硅漂移探测器(4)、微型数字化多道谱仪(5)，射线通过微型硅漂移探测器(4)进入微型数字化多道谱仪(5)；所述无线传输装置将探测装置处理过的信息发送至处理器中，所述电源（6）为探测装置和无线传输装置(7)提供电能；该分析仪外部为一铝合金盒(8)，所述激发源、采样膜、探测装置、电源、无线传输装置都固定于铝合金盒(8)中；所述铝合金盒(8)固定在云台(10)上，并通过云台(10)挂载在多轴固定翼飞行器(11)上；所述采样膜采用空气重金属微粒粉尘检测专用滤膜(3)，采样膜孔径为2.5‑10 um，采样膜直径为50‑70mm。