[发明专利]一种高空机载X荧光实时分析仪

权利要求书

1.一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，包括激发源、采样膜、探测装置、电源（6）、无线传输装置（7）、处理器；

其中，所述激发源包括固定连接的微型同位素X射线源(1)和准直器(2)；激发源发射出的射线照射在采样膜上，激发出采样膜上待测元素的特征X射线荧光，然后经探测装置收集；所述探测装置包括依次连接的微型硅漂移探测器(4)、微型数字化多道谱仪(5)，射线通过微型硅漂移探测器(4)进入微型数字化多道谱仪(5)；所述无线传输装置将探测装置处理过的信息发送至处理器中，所述电源（6）为探测装置和无线传输装置(7)提供电能；

该分析仪外部为一铝合金盒(8)，所述激发源、采样膜、探测装置、电源、无线传输装置都固定于铝合金盒(8)中；所述铝合金盒(8)固定在云台(10)上，并通过云台(10)挂载在多轴固定翼飞行器(11)上；

所述采样膜采用空气重金属微粒粉尘检测专用滤膜(3)，采样膜孔径为2.5-10 um，采样膜直径为50-70mm。

2.根据权利要求1所述的一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，所述微型同位素X射线源(1)活度在1mCi以上；所述微型同位素X射线源(1)为²³⁸Pu，¹⁰⁹Cd，¹³⁷Cs，⁵⁵Fe，²⁴¹Am或者⁵⁷Co。

3.根据权利要求2所述的一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，所述准直器(2)长度为0.5-2cm，孔径1-5mm，材质为纯铜。

4.根据权利要求3所述的一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，所述激发源与采样膜之间距离为10-20mm，激发源与采样膜成角度设置；所述微型硅漂移探测器(4) 与采样膜之间距离为10-20mm，且探测装置与采样膜之间成相同角度设置。

5.根据权利要求4所述的一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，所述微型数字化多道谱仪(5)通过网线与无线传输装置(7)连接。

6.据权利要求1至3任意一项所述一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，所述无线传输装置(7)采用IEEE 802.11系列协议进行数据传输，将微型数字化多道谱仪(5)的能谱信息发射至处理器。

7.据权利要求6所述的一种高空机载X荧光实时分析仪，其特征在于，所述多轴固定翼飞行器(11)为6轴或8轴固定翼飞行器。