[发明专利]工程化单晶体取向的测量方法及装置在审
| 申请号： | 201510320548.9 | 申请日： | 2015-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN104914121A | 公开（公告）日： | 2015-09-16 |
| 发明（设计）人： | 朱彦婷 | 申请（专利权）人： | 朱彦婷 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 王伟锋;刘铁生 |
| 地址： | 550009 贵州省贵阳市云岩*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种工程化单晶体取向的测量方法及装置，所述方法包括如下步骤：以单晶体的试样的待测面所在平面为基准面，所述基准面为Ф面，X射线发射装置和X射线探测装置所在平面为2θ面；扫描时，针对单晶体固定衍射角，2θ面以其与Ф面的交线为回转轴在一定范围内转动，从而实现X射线发射装置和X射线探测装置在衍射球面上摆动，试样以垂直于基准面的轴为旋转轴转动，旋转轴与基准面交于O点，回转轴过O点，X射线发射装置扫描试样的入射点始终为O点；测得在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强，根据布拉格定律确定试样内待测晶面的法线方向，所述法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。本发明方法成本低，易于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 工程 单晶体 取向 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
工程化单晶体取向的测量方法，包括如下步骤：以单晶体的试样的待测面所在平面为基准面，所述基准面为Ф面，X射线发射装置和X射线探测装置所在平面为2θ面；扫描时，针对单晶体固定衍射角，2θ面以其与Ф面的交线为回转轴在一定范围内转动，从而实现X射线发射装置和X射线探测装置在衍射球面上摆动，试样以垂直于基准面的轴为旋转轴转动，旋转轴与基准面交于O点，回转轴过O点，X射线发射装置扫描试样的入射点始终为O点；测得在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强，根据布拉格定律确定试样内待测晶面的法线方向，所述法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。
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