[发明专利]小尺寸盘条钢材横截面反极图测量方法有效
申请号: | 201510317206.1 | 申请日: | 2015-06-10 |
公开(公告)号: | CN104914120B | 公开(公告)日: | 2017-11-17 |
发明(设计)人: | 周顺兵;姚中海;高云;尚伦;王志奋 | 申请(专利权)人: | 武汉钢铁有限公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司42104 | 代理人: | 胡镇西 |
地址: | 430083 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种小尺寸盘条钢材横截面反极图测量方法,将若干根小尺寸盘条钢材用密堆方式平行紧密叠放并固定为一体,垂直于它们的轴心线进行切割、磨制和抛光处理,得到尺寸相对较大的待测试样,以用于测量。计算检测面上有效检测面积比率K有效。X射线衍射分别获得待测试样和标样的衍射图谱,分别求出各个晶面的强度I{hkl}试样和I{hkl}标样。将某晶面(hkl)的I(hkl)试样和I(hkl)标样的比值作为试样的该晶面的极密度值,然后除以有效检测面积比率K有效,得到该晶面的真实极密度值;将对应晶面的真实极密度值标在反极图相应的位置上,完成测量。本方法可以直接检测小尺寸盘条钢材,为其生产需求和热处理工艺的调整提供了依据。 | ||
搜索关键词: | 尺寸 钢材 横截面 反极图 测量方法 | ||
【主权项】:
一种小尺寸盘条钢材横截面反极图测量方法,其特征在于:包括以下步骤:1)制作待测试样:将若干根小尺寸盘条钢材用密堆方式平行紧密叠放并固定为一体,垂直于它们的轴心线进行切割、磨制和抛光处理,得到尺寸相对较大的待测试样(2),该待测试样(2)的检测面由多排错位布置的盘条圆形截面(1)组成,每排中的各个盘条圆形截面(1)不仅分别与其左右的盘条圆形截面(1)相切,而且与相邻排中的两个盘条圆形截面(1)两两相切,每三个两两相切的盘条圆形截面(1)之间形成凹弧边三角形空隙(3);2)选择检测区域:在待测试样(2)的检测面上选择一块面积尺寸规格足以满足X射线衍射仪测量要求的矩形检测区域(4);3)确定面积比率:设上述矩形检测区域(4)的轮廓面积为S矩形,矩形检测区域(4)轮廓内所有盘条圆形截面(1)的面积之和为S盘条,则该矩形检测区域(4)的有效检测面积比率K有效=S盘条/S矩形,依经验数据测算,确定该有效检测面积比率K有效=0.89~0.92;4)准备标准试样:取一块与待测试样(2)材质相同、没有织构、没有空隙、且面积足够大的标准状样备用,选定该标准状样上的检测区域与上述矩形检测区域(4)面积相等;5)晶面衍射峰检测:利用X射线衍射仪,在相同测量条件下,采取入射角等于反射角的对称衍射法,分别获得待测试样(2)和标准标样的衍射图谱,进而得到待测试样(2)各晶面衍射峰峰强度I{hkl}试样和标准标样各晶面衍射峰峰强度I{hkl}标样;6)处理检测数据:先计算待测试样(2)在某晶面(hkl)的检测极密度值P检测,该检测极密度值P检测为待测试样(2)在某晶面(hkl)的衍射峰峰强度I{hkl}试样与标准标样在对应某晶面(hkl)的衍射峰峰强度I{hkl}标样的比值,即P检测=I{hkl}试样/I{hkl}标样;再计算待测试样(2)在某晶面(hkl)的真实极密度值P真实,该真实极密度值P真实为对应的检测极密度值P检测除以上述有效检测面积比率K有效,即P真实=P检测/K有效;7)制作反极图:将待测试样(2)在各晶面(hkl)的真实极密度值P真实一一对应标识在反极图相应的位置上,即可完成测量过程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉钢铁有限公司,未经武汉钢铁有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510317206.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。