[发明专利]一种测试模式下自动校准环振的方法及装置有效
| 申请号： | 201510315293.7 | 申请日： | 2015-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN104901690A | 公开（公告）日： | 2015-09-09 |
| 发明（设计）人： | 徐功益;李兆亮;钱志恒 | 申请（专利权）人： | 杭州晟元芯片技术有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/099 | 分类号： | H03L7/099 |
| 代理公司： | 杭州金道专利代理有限公司 33246 | 代理人： | 赵芳 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测试模式下自动校准环振的方法，包括测试电路、内置环振、测试机台、非异失性存储器，其操作步骤如下：（1）在测试模式下，测试机台通过某个GPIO向测试电路灌入频率为几十KHz的低频时钟，作为校准环振的基准时钟；（2）内置环振的输出作为被测时钟提供到测试电路；（3）测试电路在测试机台灌入的基准时钟下，对内置环振的输出频率进行频率计数，依据计数结果，逐次调整校准值，测试电路并将调整后的校准值配置给内置环振；每调整一次校准值，测试电路重新进行一次频率计数，直到频率计数结果与期望值一致；（4）测试机台从测试电路将步骤（3）得到的最终校准值写入非易失性存储器的指定区域，完成对内置环振的校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 模式 自动 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试模式下自动校准环振的方法，包括测试电路、内置环振、测试机台、非异失性存储器，其操作步骤如下：（1）在测试模式下，测试机台通过某个GPIO向测试电路灌入频率为几十KHz的低频时钟，作为校准环振的基准时钟；（2）内置环振的输出作为被测时钟提供到测试电路；（3）测试电路在测试机台灌入的基准时钟下，对内置环振的输出频率进行频率计数，依据计数结果，逐次调整校准值，测试电路并将调整后的校准值配置给内置环振；每调整一次校准值，测试电路重新进行一次频率计数，直到频率计数结果与期望值一致；（4）测试机台从测试电路将步骤（3）得到的最终校准值写入非易失性存储器的指定区域，完成对内置环振的校准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州晟元芯片技术有限公司，未经杭州晟元芯片技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510315293.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种环保油水分离器
- 下一篇：利用太阳能耦合海水源热泵供热及海水淡化系统
