[发明专利]基于离轴抛物反射镜的高分辨率MEMS微镜红外光谱仪有效
| 申请号: | 201510308193.1 | 申请日: | 2015-06-09 | 
| 公开(公告)号: | CN104880433B | 公开(公告)日: | 2018-07-10 | 
| 发明(设计)人: | 张中卫;王新良;王科平;靳翔;黄静静 | 申请(专利权)人: | 河南理工大学 | 
| 主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35;G01J3/02;G01J3/06 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 454000 河南*** | 国省代码: | 河南;41 | 
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| 摘要: | 本发明提出一种基于离轴抛物反射镜的MEMS微镜红外光谱仪,其由光纤连接器、入射狭缝、抛物面反射镜、扫描镜、闪耀光栅、反射聚焦镜、出射狭缝、探测器等部分组成。扫描镜是采用MEMS(微电子机械系统)技术制作而成的扫描微镜,其与闪耀光栅共同实现扫描与分光功能;外部待测光信号通过光纤传输后由光纤连接器、入射狭缝耦合进光谱仪,被抛物面反射镜离轴准直为平行光束;平行光束被扫描镜扫描反射至紧靠扫描镜放置的闪耀光栅上,经光栅分光、聚焦镜反射聚焦后,不同波长的光依次通过出射狭缝照到探测器上,实现光谱的连续扫描探测。本发明提出的光谱仪是具有体积小、光谱范围宽、信噪比高、成本低廉等优点的高分辨率MEMS红外光谱仪。 | ||
| 搜索关键词: | 扫描镜 红外光谱仪 闪耀光栅 离轴 抛物面反射镜 光纤连接器 抛物反射镜 光谱仪 出射狭缝 高分辨率 平行光束 入射狭缝 探测器 光谱 扫描 微电子机械系统 反射聚焦镜 光栅 测光信号 反射聚焦 分光功能 光纤传输 技术制作 连续扫描 扫描微镜 耦合 聚焦镜 体积小 信噪比 波长 分光 紧靠 准直 反射 探测 外部 | ||
【主权项】:
                1.基于离轴抛物面反射镜的高分辨率MEMS 微镜红外光谱仪,它是由光纤连接器(1)、入射狭缝(2)、离轴抛物面反射镜(3)、扫描镜(4)、闪耀光栅(5)、聚焦反射镜(6)、出射狭缝(7)、探测器(8)部分组成;其特征在于:所述光纤连接器(1)放置在入射狭缝(2)前,入射狭缝(2)设置于离轴抛物面反射镜(3)的焦点或焦点附近,待测光信号通过光纤连接器(1)、入射狭缝(2)耦合进光谱仪,被离轴抛物面反射镜(3)准直为平行光束;扫描镜(4)放置在离轴抛物面反射镜(3)的准直光路上,闪耀光栅(5)紧靠扫描镜(4)、与扫描镜(4)呈小于90°夹角放置,聚焦反射镜(6)与闪耀光栅对向放置;准直的平行光束被扫描镜(4)反射到闪耀光栅(5)上,通过闪耀光栅(5)进行色散分光;色散光被聚焦反射镜(6)聚焦成像,并且色散光被聚焦反射镜(6)聚焦反射后,反射光路与经离轴抛物面反射镜(3)准直的平行光束相交叉;出射狭缝(7)位于聚焦反射镜(6)的焦平面上或焦平面附近,探测器(8)放置在出射狭缝(7)后方;由于扫描镜(4)的周期性扫描运动,不同波长的待测光信号被闪耀光栅(5)分光、聚焦反射镜(6)聚焦成像后依次通过出射狭缝(7)照射在探测器(8)上,从而实现光谱的连续扫描探测。
            
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