[发明专利]一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置

摘要

本发明公开了一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置，装置本体包括装有滤光片的滤光片转轮，控制滤光片转轮转角的第一步进电机和第一绝对式光电编码器，包含有检波器和1/4波片的检波组件镜筒，控制检波组件镜筒转角的空心传动轴和第二绝对式光电编码器，光电探测器组件，探测器放大倍率控制器，包含第二步进电机、第一绝对式光电编码器、空心传动轴、齿轮传动机构和第二绝对式光电编码器伺服控制组件。本发明采用滤光片转轮实现频谱的选择，采用检偏器实现偏振的检测，采用1/4波片实现探测器表面偏振的补偿，采用电控传动控制机构和专用软件实现自动化，最终实现460‑735nm波段范围内，偏振度大于100的偏振测量。

主权项

一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置，其特征在于，装置本体(100)包括装有滤光片(102)的滤光片转轮(101)，控制滤光片转轮(101)转角的第一步进电机(103)和第一绝对式光电编码器(104)，包含有检波器(106)和1/4波片(107)的检波组件镜筒(105)，控制检波组件镜筒(105)转角的空心传动轴(108)和第二绝对式光电编码器(110)，光电探测器组件(111)，探测器放大倍率控制器(112)，包含第二步进电机(103)、第一绝对式光电编码器(104)、空心传动轴(108)、齿轮传动机构(109)和第二绝对式光电编码器(110)伺服控制组件(113)，以及包含采集控制软件的计算机(114)；滤光片转轮(101)为6孔圆盘，5个孔分别放置5种宽带带通的滤光片(102)，滤光片(102)的波段范围分别是15‑485nm，480‑550nm、545‑615nm、595‑675nm和655‑735nm，另一孔为空；伺服控制组件(113)与计算机(114)相连；检波器(106)设置在1/4波片(107)之前，检波器(106)的透光轴与1/4波片(107)的快轴成45°，检波器(106)的波长范围为250‑3500nm，1/4波片(107)为两片交替使用，波长范围分别为460‑650nm和650‑1000nm；光电探测器组件(111)包括聚焦光学系统，Si基PIN光电探测器、前置放大器和电压跟随器，聚焦光学系统，Si基PIN光电探测器、前置放大器和电压跟随器依次相连。