[发明专利]基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201510214602.1 | 申请日： | 2015-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN104792794A | 公开（公告）日： | 2015-07-22 |
| 发明（设计）人： | 胡婷婷;金国祥 | 申请（专利权）人： | 武汉工程大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 唐万荣 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法，提供一种基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法，包括以下步骤，第一步，采集光学薄膜表面的图像，对该光学薄膜表面图像进行平滑处理。第二步，对平滑处理后的光学薄膜表面图像提取背景图像及二值化处理。第三步，根据不同缺陷的图像特征，识别出缺陷。本发明方法利用机器视觉检测技术和图像处理技术，实现了切膜机的自动缺陷检测，利用均值滤波来获取图像背景，有效地实现了光学薄膜的缺陷检测，并提高了产品原料的利用率。本发明基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法，实现了对光学薄膜表面缺陷更准确、更高效的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 机器 视觉 光学薄膜 表面 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤，1)采集光学薄膜表面的图像，对该光学薄膜表面图像进行平滑处理；2)对平滑处理后的光学薄膜表面图像提取背景图像及二值化处理；3)根据不同缺陷的图像特征，识别出缺陷。
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