[发明专利]一种Spectralon漫反射板校正方法有效
| 申请号： | 201510200904.3 | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN104807616B | 公开（公告）日： | 2017-06-16 |
| 发明（设计）人： | 方慧;张昭;张畅;杜朋朋;刘飞;何勇 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Spectralon漫反射板校正方法，包括步骤1)光源从不同天顶角照射Spectralon漫反射板，利用光谱仪从不同天顶角和方位角采集相应的反射光谱数据；2)从所述反射光谱数据内截取有效波段范围内的光谱数据，并求平均值，剔除差异相对较大的光谱数据；3)对剩余的光谱数据求残差平方和Rss，确定最稳定的探测器接受天顶角θr,degree的值，并建立任意探测器接受天顶角θr与θr,degree的关系表达式；4)将关系表达式代入Spectralon漫反射板的BRDF表达式，完成Spectralon漫反射板校正。本发明利用Spectralon漫反射板已知的数据进行校正，并计算出探测器接收天顶角方位通用的表达式，为后续试验过程缩短了时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 spectralon 漫反射 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)光源从不同天顶角照射Spectralon漫反射板，利用光谱仪从不同天顶角和方位角采集相应的反射光谱数据；2)从所述反射光谱数据内截取有效波段范围内的光谱数据，并求平均值，剔除差异相对较大的光谱数据；3)对剩余的光谱数据求残差平方和Rss，确定最稳定的探测器接受天顶角θr,degree的值，并建立任意探测器接受天顶角θr与θr,degree的关系表达式；4)将关系表达式代入Spectralon漫反射板的BRDF表达式，完成Spectralon漫反射板校正。
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