[发明专利]日光光谱测量方法和装置在审
| 申请号： | 201510179642.7 | 申请日： | 2015-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN104748853A | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | 高源;董建飞;张国旗 | 申请（专利权）人： | 常州市武进区半导体照明应用技术研究院 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;李志刚 |
| 地址： | 213164 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种日光光谱测量方法和装置。该日光光谱测量方法包括采用光谱获取装置获取环境参量，其中，环境参量为影响日光光谱的参量，在光谱获取装置中安装有模型算法程序，模型算法程序用于按照预设算法计算日光光谱；以及光谱获取装置根据环境参量执行日光光谱测量，其中，将环境参量作为模型算法程序的输入参量，并通过模型算法程序获取日光光谱。通过本发明，解决了现有技术测量日光光谱需要使用专门的测量仪器的问题，达到了简便快速地测量日光光谱的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 日光 光谱 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种日光光谱测量方法，其特征在于，包括：光谱获取装置获取环境参量，其中，所述环境参量为影响日光光谱的参量，在所述光谱获取装置中安装有模型算法程序，所述模型算法程序用于按照预设算法计算日光光谱；以及所述光谱获取装置根据所述环境参量执行日光光谱测量，其中，将所述环境参量作为所述模型算法程序的输入参量，并通过所述模型算法程序获取日光光谱。
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