[发明专利]一种光纤阵列光学性能测试方法有效
| 申请号： | 201510106691.8 | 申请日： | 2015-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN104713705B | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 王晨;韩镝;廖运发;扈炳孝;张虎 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部邮电工业标准化研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100088 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光纤阵列光学性能测试方法，所述方法包括S1、将正8°光纤阵列的任一个通道与反8°光纤阵列的任一个通道进行耦合；S2、将耦合后的正8°光纤阵列和反8°光纤阵列通过夹具固定，形成光纤阵列测试样品；S3、使用插回损测试仪通过熔断法或插入法测量所述光纤阵列测试样品的光学性能；S4、重复步骤S1‑S3，将所述正8°光纤阵列每个通道分别与所述反8°光纤阵列的每个通道进行耦合，并分别测试每次耦合后形成的光纤阵列测试样品的光学性能。本发明通过将两个正反光纤阵列直接耦合到一起，从而减少了测试误差，增强了测试的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 阵列 光学 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种光纤阵列光学性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：S1、将正8°光纤阵列的任一个通道与反8°光纤阵列的任一个通道进行耦合；S2、将耦合后的正8°光纤阵列和反8°光纤阵列通过夹具固定，形成光纤阵列测试样品；S3、使用插回损测试仪通过熔断法或插入法测量所述光纤阵列测试样品的光学性能；S4、重复步骤S1‑S3，将所述正8°光纤阵列每个通道分别与所述反8°光纤阵列的每个通道进行耦合，并分别测试每次耦合后形成的光纤阵列测试样品的光学性能。
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