[发明专利]下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法有效

专利信息
申请号: 201510094431.3 申请日: 2015-03-03
公开(公告)号: CN104634803B 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 周正;蒋碧仙;郑若锋;孙蓉;谭雪红;魏淑红 申请(专利权)人: 四川西冶新材料股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 四川省成都市天策商标专利事务所51213 代理人: 罗韬
地址: 610000 四川省成都市郫县*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 本发明公开了一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法。本发明直接将液体水玻璃称入铂金坩埚中加入熔剂、氧化剂和脱模剂后烘干、熔融制片后,然后用下照式x射线荧光光谱分析测定水玻璃多元素。本专利方法不仅使水玻璃的测定变得简单、快捷、准确;而且信息量大,方法大量用于产品分析和高端水玻璃产品研制,均取得良好效果。
搜索关键词: 下照式 射线 荧光 光谱仪 测定 液体 水玻璃 方法
【主权项】:
一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法,其特征在于它包括以下步骤:A,样品的制备首先,称取液体水玻璃于铂金坩埚内,然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6:5:0.5~1:0.015~0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂;然后在低温电炉上烤干水分后,在温度为690~720℃的条件下预氧化2~4min;接着升温至1050~1070℃,熔融6~8min,混匀,冷却,得到所述样品;B,样品的测定用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量;在步骤A中,所述熔剂是一种混合溶剂,其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成;在步骤B中,所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA,铍窗厚度为75μm。
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