[发明专利]带有实现层析成像测量原理的测量装置的流量测量仪有效

专利信息
申请号: 201510085103.7 申请日: 2015-02-17
公开(公告)号: CN104864925B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: C.J.霍根多恩;R.R.特罗姆普;M.L.泽特维伊;O.J.P.布舍 申请(专利权)人: 克洛纳有限公司
主分类号: G01F1/716 分类号: G01F1/716;G01R33/28;G01N24/08
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 陈浩然;周心志<国际申请>=<国际公布>
地址: 瑞士.*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及一种带有实现层析成像测量原理的测量装置的流量测量仪,其用于确定流过测量管的多相介质的流量。所示出的流量测量仪具有实现层析成像测量原理的测量装置和第二测量装置。这两个测量装置中的至少一个实现基于核自旋共振的测量原理。在所示出的实施例中,第二测量装置通过磁共振层析成像仪来实现。第一测量装置不同于此地来实现,即通过实现预磁化对比测量的测量原理的测量装置,其具有带有恒定的磁场的预磁化段。磁场具有至少一个垂直于多相介质的流通方向的分量并且由围绕测量管布置的磁场产生元件来产生。此外,用于通过RF激励脉冲或RF激励脉冲序列激励核自旋的结构单元属于该测量装置。
搜索关键词: 带有 实现 层析 成像 测量 原理 装置 流量 测量仪
【主权项】:
1.一种用于确定流过测量管的多相介质的流量的流量测量仪,其带有实现层析成像测量原理的层析成像测量装置,其特征在于,设置有至少一个另外的测量装置并且所述层析成像测量装置和至少一个另外的测量装置中的至少一个实现基于核自旋共振的测量原理,以及所述层析成像测量装置和至少一个另外的测量装置中的另一个实现电容层析成像术的测量原理或者预磁化对比测量的测量原理。/n
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