[发明专利]基于量子点间接免疫荧光的病原体检测方法在审

专利信息
申请号: 201510081033.8 申请日: 2015-02-13
公开(公告)号: CN104634969A 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 张二盈 申请(专利权)人: 深圳市金准生物医学工程有限公司
主分类号: G01N33/569 分类号: G01N33/569;G01N33/542
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 冯筠
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种基于量子点间接免疫荧光的病原体检测方法,其包括如下步骤:第一步,对病原体进行包被,并进行增殖培养;第二步,设置质控孔,将无吸附病毒的MDCK细胞包被在玻片阴极质控孔中,做阴极对照,将吸附有病毒的MDCK细胞包被在玻片阳极质控孔中,做阳极对照;第三步,用化学交联法将量子点与抗人IgM的特异性抗体连接,得到量子点修饰抗体;第四步,利用计算机对扫描图片进行镜检和分析。本发明的一种基于量子点间接免疫荧光标记方法,其灵敏度高、自动化强、细胞固定稳固等优点。
搜索关键词: 基于 量子 间接 免疫 荧光 病原体 检测 方法
【主权项】:
一种基于量子点间接免疫荧光的病原体检测方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,对病原体进行包被,并进行增殖培养;第二步,设置质控孔,将无吸附病毒的MDCK细胞包被在玻片阴极质控孔中,做阴极对照,将吸附有病毒的MDCK细胞包被在玻片阳极质控孔中,做阳极对照;第三步,用化学交联法将量子点与抗人IgM的特异性抗体连接,得到量子点修饰抗体;第四步,利用计算机对扫描图片进行镜检和分析。
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