[发明专利]光栅应变测量装置

摘要

本发明公开了一种光栅应变测量装置，所述光栅应变测量装置包括自由度可调底座、Z向导轨、X向导轨、光阑、光屏、光源、半透半反镜、反射镜架、第一反射镜至第四反射镜和相机。光阑设在Z向导轨上，光屏沿Z向可移动地设在Z向导轨上，光源设在X向导轨上，反射镜架设在Z向导轨上。半透半反镜设在X向导轨上，反射到试件上的测量光线在试件的表面上发生反射和衍射，标定光线经光阑透射到光屏上。第一反射镜和第二反射镜可调节地设在反射镜架上。第三反射镜可调节地设在X向导轨上，通过第三反射镜反射到试件上的测量光线在试件的表面上发生反射，第四反射镜可调节地设在反射镜架上。所述光栅应变测量装置具有测量精度高等优点。

主权项

一种光栅应变测量装置，其特征在于，包括：自由度可调底座；Z向导轨和X向导轨，所述Z向导轨设在所述自由度可调底座上，所述X向导轨设在所述Z向导轨上；光阑，所述光阑设在所述Z向导轨上；光屏，所述光屏沿Z向可移动地设在所述Z向导轨上；用于发出测量光线的光源，所述光源设在所述X向导轨上，用于透射测量光线以及将所述测量光线反射到试件上的半透半反镜，所述半透半反镜设在所述X向导轨上，其中所述试件的表面具有光栅，反射到所述试件上的测量光线在所述试件的表面上发生反射以便形成标定光线以及衍射以便形成第一光线和第二光线，所述标定光线经所述光阑透射到所述光屏上以形成标定反射光斑；反射镜架，所述反射镜架设在所述Z向导轨上；用于将所述第一光线反射到所述光屏上以形成第一光斑的第一反射镜和用于将所述第二光线反射到所述光屏上以形成第二光斑的第二反射镜，所述第一反射镜和所述第二反射镜可调节地设在所述反射镜架上，所述第一反射镜和所述第二反射镜沿X向和Y向中的一个排列；用于将透射的测量光线反射到试件上的第三反射镜，所述第三反射镜可调节地设在所述X向导轨上，所述半透半反镜位于所述光源与所述第三反射镜之间，其中通过所述第三反射镜反射到所述试件上的测量光线在所述试件的表面上发生反射以便形成第三光线；用于将所述第三光线反射到所述光屏上以形成消离面位移光斑的第四反射镜，所述第四反射镜可调节地设在所述反射镜架上；和用于采集所述标定反射光斑、所述第一光斑、所述第二光斑和所述消离面位移光斑的相机。