[发明专利]金刚石纳米线阵列、其制备方法及用于电化学分析的电极在审

专利信息
申请号: 201510064484.0 申请日: 2015-02-06
公开(公告)号: CN104709872A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 李俊杰;孙鹏;唐成春;全保刚;刘哲;顾长志 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01N27/30;B82Y40/00
代理公司: 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 代理人: 范晓斌;梁田
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种金刚石纳米线阵列、制备方法及用于电化学分析的电极。该制备方法包括:在金刚石薄膜的表面上设置掩模层,该掩模层的图形构成为覆盖待形成的各个金刚石纳米线的顶端,并暴露出相邻的金刚石纳米线之间的待刻蚀部分;采用ICP-RIE刻蚀工艺对具有掩模层的金刚石薄膜刻蚀,以去除待刻蚀部分,在金刚石薄膜中形成柱状的各个金刚石纳米线;去除位于各个金刚石纳米线的顶端的掩膜层的材料。本发明采用ICP-RIE刻蚀,由于增加了具有高的等离子体密度及刻蚀效率的电感耦合元件,可以分别控制等离子体的产生和加速,实现了刻蚀过程和形貌可控,进而得到了侧壁陡直性更好且深宽比更高的金刚石纳米线阵列。
搜索关键词: 金刚石 纳米 阵列 制备 方法 用于 电化学 分析 电极
【主权项】:
一种金刚石纳米线阵列的制备方法,用于在金刚石薄膜(10)中形成所述金刚石纳米线阵列,所述金刚石纳米线阵列包括多根沿所述金刚石薄膜(10)的厚度方向延伸且在横向上相互间隔开的金刚石纳米线(20),所述制备方法包括:在所述金刚石薄膜(10)的表面上设置掩模层(30),所述掩模层(30)的图形构成为覆盖待形成的各个所述金刚石纳米线(20)的顶端,并暴露出相邻的所述金刚石纳米线(20)之间的待刻蚀部分;采用电感耦合等离子体反应离子刻蚀工艺对具有所述掩模层(30)的所述金刚石薄膜(10)进行刻蚀,以去除所述待刻蚀部分,从而在所述金刚石薄膜(10)中形成柱状的各个所述金刚石纳米线(20);以及去除位于各个所述金刚石纳米线(20)的顶端的所述掩膜层(30)的材料,得到所述金刚石纳米线阵列。
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