[发明专利]测试装置、校正器件、校正方法及测试方法在审
| 申请号： | 201510056916.3 | 申请日： | 2015-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN104898037A | 公开（公告）日： | 2015-09-09 |
| 发明（设计）人： | 増田伸;原英生;安高刚 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的测试装置对具备光接口的多个被测器件简便地进行测试。本发明提供一种测试装置及测试方法，该测试装置包括：光测试信号产生部，产生光测试信号；光信号供给部，将光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件；第一光开关部，在多个被测器件所输出的光信号中选择由测试对象的被测器件输出的光信号；及光信号接收部，接收所选择的光信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 校正 器件 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，包括：光测试信号产生部，产生光测试信号；光信号供给部，将所述光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件；第一光开关部，在所述多个被测器件所输出的光信号中选择由所述测试对象的被测器件输出的光信号；及光信号接收部，接收所选择的所述光信号。
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