[发明专利]具有用于由THz辐射表征涂覆的传感器系统的涂覆机构在审
申请号: | 201510040178.3 | 申请日: | 2015-01-27 |
公开(公告)号: | CN104998801A | 公开(公告)日: | 2015-10-28 |
发明(设计)人: | J.L.M.范梅彻伦;H.梅博伦 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | B05C11/10 | 分类号: | B05C11/10;G01B11/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;姜甜 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本发明题为具有用于由THz辐射表征涂覆的传感器系统的涂覆机构。涂覆机构包括:涂覆单元,用于将涂覆层施加到主体(2);以及传感器系统,用于表征主体(2)的涂覆(4)。传感器系统包括THz系统(1)、处理单元(30)和定位系统(40)。THz系统(1)包括:光源(50),用于生成源光辐射;柔性第一辐射引导线缆(51),用于传送源光辐射;THz发射器(10),包括THz辐射生成器(12)和THz光学系统(14);以及THz检测器(20)。定位系统(40)包括携带THz发射器(10)的活动单元(42)。光源(50)设置在活动单元(42)外部。处理单元(30)在操作上耦合到THz检测器(20)。 | ||
搜索关键词: | 具有 用于 thz 辐射 表征 传感器 系统 机构 | ||
【主权项】:
一种涂覆机构,包括‑ 涂覆单元,用于将涂覆层施加到主体(2);以及‑ 传感器系统,用于通过使用THz辐射按照非接触方式来表征所述主体(2)的涂覆(4),所述涂覆包括所施加涂覆层,所述传感器系统包括THz系统(1)、处理单元(30)和定位系统(40),其中:所述THz系统(1)包括‑ 光源(50),用于生成源光辐射;‑ 柔性第一辐射引导线缆(51),用于传送所述源光辐射;‑ THz发射器(10),包括经由所述柔性第一辐射引导线缆(51)耦合到所述激光源(50)以用于接收来自所述光源(50)的所述源光辐射并且适合于从所述源光辐射生成出射THz辐射(60)的THz辐射生成器(12)、以及用于将所述出射THz辐射定向到所述被涂覆主体(2)的THz光学系统(14);以及‑ THz检测器(20),用于检测与所述涂覆(4)相互作用的入射THz辐射(70),并且其中所述定位系统(40)包括携带所述THz发射器(10)的活动单元(42),使得通过移动所述活动单元(42),所述THz发射器(10)相对于所述被涂覆主体(2)来定位,并且所述光源(50)设置在所述活动单元(42)外部,使得当移动所述活动单元(42)时,所述THz发射器(10)相对于所述光源(50)来移动,同时所述THz发射器(10)经由所述柔性第一辐射引导线缆(51)保持为耦合到光源(50),并且所述处理单元(30)在操作上耦合到所述THz检测器(20),以用于接收和处理表示所检测THz辐射的所检测响应信号。
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