[发明专利]测量细丝直径的方法有效
申请号: | 201510037159.5 | 申请日: | 2015-01-26 |
公开(公告)号: | CN105890529B | 公开(公告)日: | 2018-08-17 |
发明(设计)人: | 吴益诚;孙萍;马佳琳;阳熠 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 梁少微;王丽琴 |
地址: | 100875 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种测量细丝直径的方法,该方法应用于细丝直径测量装置中,该方法包括:将遮挡住衍射主极大,且位于衍射主极大一侧的衍射条纹空域光强分布曲线进行傅立叶变换得到频域光强分布的实验曲线,获取衍射条纹本征频率的实验值;对所述频域光强分布的实验曲线进行拟合,得到拟合后的本征频率值;根据公式d=λfν0,将入射光波长λ,透镜焦距f,拟合后衍射条纹的本征频率ν0代入,得到细丝直径d。本发明还公开了一种细丝直径测量装置。采用本发明能够精确测量细丝直径。 | ||
搜索关键词: | 测量 细丝 直径 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测量细丝直径的方法,其特征在于,该方法应用于细丝直径测量装置中,该方法包括:将遮挡住衍射主极大,且位于衍射主极大一侧的衍射条纹空域光强分布曲线进行傅立叶变换得到频域光强分布的实验曲线,获取衍射条纹本征频率的实验值;对所述频域光强分布的实验曲线进行拟合,得到拟合后衍射条纹的本征频率;根据公式d=λfν0,将入射光波长λ,透镜焦距f,拟合后衍射条纹的本征频率ν0代入,得到细丝直径d。
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