[发明专利]一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法在审
| 申请号： | 201510025427.1 | 申请日： | 2015-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN104482922A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 李华 | 申请（专利权）人： | 中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 吴中伟 |
| 地址： | 610072 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及工程地质勘察领域的结构面测量技术，其公开了一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法，解决传统技术中对岩体结构面测量方式存在的工作时间长、效率低的问题。本发明利用三维激光扫描技术获取调查窗口岩体表面激光点云，利用数码相机获取岩体表面真彩色数码照片，通过三维激光点云及真彩色数码照片识别结构面，计算结构面产状，生产结构面出露线，测量结构面的长度、间距、连通率等。本发明适用于岩体结构面测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 三维 激光 扫描 技术 结构 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法，其特征在于，包括以下步骤：A.选定调查窗口；B.利用三维激光扫描仪扫描调查窗口，获得调查窗口的点云数据；C.利用数码相机拍摄调查窗口，获得调查窗口的数码照片；D.利用点云数据叠加数码照片还原调查窗口的真实三维影像，并依此勾勒出具体结构面；E.基于获取的具体结构面，测量其相关参数。
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