[发明专利]一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法在审

专利信息
申请号: 201510025427.1 申请日: 2015-01-19
公开(公告)号: CN104482922A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 李华 申请(专利权)人: 中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 代理人: 吴中伟
地址: 610072 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 三维 激光 扫描 技术 结构 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

A.选定调查窗口;

B.利用三维激光扫描仪扫描调查窗口,获得调查窗口的点云数据;

C.利用数码相机拍摄调查窗口,获得调查窗口的数码照片;

D.利用点云数据叠加数码照片还原调查窗口的真实三维影像,并依此勾勒出具体结构面;

E.基于获取的具体结构面,测量其相关参数。

2.如权利要求1所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,步骤A中,所述选定调查窗口的方式为:

在平硐内选取5m长,2m高的范围作为调查窗口。

3.如权利要求1所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,步骤D中,所述利用点云数据叠加数码照片还原调查窗口的真实三维影像,并依此勾勒出具体结构面的方法为:

D1.将三维点云及数码照片叠加形成调查窗口的真彩色三维模型;

D2.根据激光点云中激光点的明暗程度初步确定线状或面状的结构面;

D3.对比照数码照片,勾勒出具体的每一个结构面。

4.如权利要求1所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,步骤E中,所述相关参数包括:产状、长度、间距、连通率。

5.如权利要求4所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,对于产状的获取方法:

在确定的结构面上选取3个以上激光点,计算出结构面的产状。

6.如权利要求4所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,对于长度的获取方法:

对于表现为线状的结构面直接查询其长度,对于表现为面状的结构面则测量其最大长度作为其长度。

7.如权利要求4所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,对于间距的获取方法:

首先,测量相临结构面在点云表面的可视间距,然后,根据结构面与点云表面的夹角及结构面可视间距计算结构面的真实间距。

8.如权利要求4所述的一种基于三维激光扫描技术的结构面测量方法,其特征在于,对于连通率的获取方法:

首先,将各组结构面投影到平洞轴线上,然后,将裂隙的投影长度累加,然后除以调查窗口长度,得到该组裂隙的连通率。

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