[发明专利]微带天线阵列的测试方法有效
| 申请号： | 201510016585.0 | 申请日： | 2015-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN104638384B | 公开（公告）日： | 2017-08-22 |
| 发明（设计）人： | 王春华;陈拉鹏 | 申请（专利权）人： | 深圳市华信天线技术有限公司 |
| 主分类号： | H01Q21/06 | 分类号： | H01Q21/06 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种微带天线阵列的测试方法，包括如下步骤制作金属箔；对微带天线阵列中的单个阵元逐一进行测试，筛选出天线参数不符合要求的阵元；对天线参数不符合要求的阵元，逐一进行调试；当其中一个阵元进行调试时，其他阵元连接匹配的负载；每个阵元进行调试的步骤包括在所述阵元上的贴片的其中至少一对边上贴上所述金属箔，测试当前调试的阵元的天线参数；反复更换不同尺寸的金属箔，直到阵元的天线参数符合要求。上述测试方法，通过在阵元的贴片的边缘贴金属箔，可以方便地改变贴片的整体尺寸，实现对阵元频率的微调，在保证频率符合要求的基础上，又可以有效改善阵元的低仰角增益。测试方法简单省时。 | ||
| 搜索关键词： | 微带 天线 阵列 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种微带天线阵列的测试方法，包括如下步骤：制作金属箔，所述金属箔的宽度和长度与微带天线阵元的贴片的边缘相匹配；对微带天线阵列中的单个阵元逐一进行测试，筛选出天线参数不符合要求的阵元；对天线参数不符合要求的阵元，逐一进行调试；当其中一个阵元进行调试时，其他阵元连接匹配的负载；每个阵元进行调试的步骤包括：在所述阵元上的贴片的其中至少一对边上贴上所述金属箔，测试当前调试的阵元的天线参数；反复更换不同尺寸的金属箔，直到阵元的天线参数符合要求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华信天线技术有限公司，未经深圳市华信天线技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510016585.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：开沟机用变速箱
- 下一篇：一种多频宽带环形单极子平面手机天线
