[发明专利]ATR红外线光谱仪有效

专利信息
申请号: 201480075240.6 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN106415241B 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 卡斯顿·吉伯乐;班哲明·莱哈德·维森特 申请(专利权)人: 派洛斯有限公司;史派克托里提克有限公司
主分类号: G01N21/3577 分类号: G01N21/3577;G01N21/552
代理公司: 北京寰华知识产权代理有限公司 11408 代理人: 林柳岑
地址: 英国爱丁*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 发明涉及一种用于分析样本的化学组成的ATR红外线光谱仪(1),其具有細长ATR晶体(2)、布置于ATR晶体(2)上的红外光发射器线(8)和布置于所述ATR晶体(2)的另一纵向端处的红外光检测器线(10),所述ATR晶体(2)的入口表面(4)布置于所述ATR晶体(2)的一个纵向端处。从所述红外光发射器线(8)发射的红外光经由所述入口表面(4)直接进入所述ATR晶体(2),且在所述ATR晶体(2)中导引到所述红外光检测器线(10),同时经历全内反射且与所述样本交互作用,样本布置于所述红外光发射器线(8)与邻近所述ATR晶体(2)的所述红外光检测器线(10)之间。所述红外光检测器线(10)的所有红外光检测区域(18)关于垂直于所述ATR晶体的纵向轴线(21)的方向的总延伸(13)最大对应于所述ATR晶体(2)的宽度(14)且大于所述红外光发射器线(8)的所有红外光发射区域(17)的总延伸(12)。
搜索关键词: atr 红外线 光谱仪
【主权项】:
1.一种用于分析样本的化学组成的ATR红外线光谱仪(1),其包括细长ATR晶体(2)和紧邻布置于所述ATR晶体(2)的一个纵向端处的所述ATR晶体(2)的入射面(4)布置的红外光发射器线(8),和布置于所述ATR晶体(2)的另一纵向端处的红外光检测器线(10),其中由所述红外光发射器线(8)发射的红外光经由所述入射面(4)直接进入到所述ATR晶体(2)内,且其在所述ATR晶体(2)中在全内反射下且通过与邻近所述红外光发射器线(8)与所述红外光检测器线(10)之间的所述ATR晶体(2)布置的所述样本的交互导引到所述红外光检测器线(10),其中所述红外光检测器线(10)的所有红外线光检测区域(18)的总范围(13)至多对应于所述ATR晶体(2)关于垂直于所述ATR晶体(2)的纵向轴线(21)的方向的宽度(14),且其大于所述红外光发射器线(8)的所有红外线发光区域(17)的总范围(12),且其中所述红外光检测器线(10)具有线性可变波长滤波器,其光透射率垂直于所述ATR晶体(2)的所述纵向轴线变化。
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