[发明专利]光学检查装置有效
| 申请号： | 201480066961.0 | 申请日： | 2014-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN105980836B | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 冈本务;水野绘美;樽本祥宪 | 申请（专利权）人： | 株式会社石田 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;G01N21/90 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 田喜庆;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 光学检查装置1包括：光照射部11，向物品50照射光；光检测部12，检测光照射到物品50后的透射光；以及支承部13，通过悬臂支承光照射部11和光检测部12。利用光检查物品50的检查区域暴露在环境空气中。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学检查装置，包括：光照射部，向物品照射近红外线；光检测部，检测所述近红外线照射到所述物品后的透射光；以及支承部，通过悬臂支承所述光照射部和所述光检测部，利用所述近红外线检查所述物品的检查区域暴露在环境空气中，所述光照射部和所述光检测部能够与所述支承部一体地旋转，所述光照射部和所述光检测部能够以距所述光照射部的距离小于距所述光检测部的距离的位置为中心，与所述支承部一体地旋转。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社石田，未经株式会社石田许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480066961.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：包括聚(酸)膜分离基质的旋转柱及其制造和使用的方法
- 下一篇：分光器
