[发明专利]校准设备和计算机断层扫描方法有效
| 申请号： | 201480065411.7 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN105849537B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 山姆·霍克;杰玛·法德尔;帕特里克·布兰卡特 | 申请（专利权）人： | 尼康计量公众有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 比利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在射线摄影系统中，例如CT系统，对校准对象成像。处理影像以校准该系统，而无需对校准对象进行在先测量。改进初始估值以提高准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 设备 计算机 断层 扫描 方法 | ||
【主权项】：
一种校准包括射线源和检测器的射线摄像系统的方法，该方法包括：提供一校准对象，使所述校准对象相对于所述射线源和/或所述检测器旋转，获取所述校准对象的多个射线影像，其中，所述校准对象包括多个标记，在多个影像中识别多个标记，使用所述影像获得对应于每个标记的椭圆路径，较优地通过对每个标记的成像轨迹拟合椭圆，以及，使用所述椭圆路径确定所述系统的几何参数。
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