[发明专利]分析空间测量数据的方法和测量系统、计算机可读介质

摘要

分析空间测量数据的方法和测量系统、计算机可读介质。本发明涉及一种用于分析空间测量数据的方法，该方法包括具有多个测量处理的评估处理，其特征在于，空间数据的第一测量与第二测量之间的空间距离(600)和/或时间间隔(700)，其中，该方法还包括：变换传感器参照系统，并且为所有传感器设置统一参照系统(45)，统一参照系统与物品(10，10')的集合中的至少一个物品或者物品(10，10')的所述集合中的至少一个物品的支承件(33)相关；从所测量的空间数据减去传感器相关误差；以及利用统一参照系统(45)提供用于在空间数据的第一测量和第二测量期间测量和/或外推的值的数据库。

主权项

1.一种用于分析空间测量数据的方法，该方法包括具有多个测量处理的评估处理，所述多个测量处理关于多个基本上相同的物品(10、10')的集合的元素在时间和/或空间上分布，所述多个测量处理中的每一个至少包括借助于多个传感器(21a‑c、22a、23a‑b、24a)对多个物品(10、10')中的物品(10)的空间数据进行的第一测量和第二测量，所述多个传感器是至少一个传感器系统(21‑24)的一部分，其中，对空间数据的每个测量都包括：·为每个传感器(21a‑c、22a、23a‑b、24a)提供传感器参照系统(41a‑c)，以及·借助至少一个传感器(21a‑c、22a、23a‑b、24a)来测量和/或外推(200)所述物品(10)的至少一个特征(15a‑c)的一个或更多个空间值，其特征在于，空间数据的所述第一测量与所述第二测量之间的空间距离(600)和/或时间间隔(700)，其中，该方法还包括：·变换所述传感器参照系统，并且为所有传感器(21a‑c、22a、23a‑b、24a)提供统一参照系统(45)，所述统一参照系统(45)与所述物品(10)或在其上固定地限定所述物品(10)的位置的支承件(33)相关；·从所测量的空间数据减去传感器相关误差；以及·利用所述统一参照系统(45)提供用于在空间数据的所述第一测量和所述第二测量期间测量和/或外推的值的数据库，其中，提供传感器参照系统包括使所述传感器(21a‑c、22a、23a‑b、24a)参照(300)到参照点(12)，所述参照点(12)在所述统一参照系统(45)中具有限定位置。