[发明专利]针对差分相位衬度CT的经验性射束硬化校正有效
| 申请号： | 201480060960.5 | 申请日： | 2014-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN105705097B | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | T·克勒;B·J·布伦德尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00;G01N23/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： |
一种用于断层摄影图像数据的射束硬化校正方法、相关校准方法以及相关装置。断层摄影图像数据包括衰减数据(f)和相位梯度数据(g)和/或小角度散射数据(h)。通过将函数 |
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| 搜索关键词： | 针对 相位 ct 经验性 硬化 校正 | ||
【主权项】：
1.一种用于干涉测量断层摄影图像数据的射束硬化校正方法，所述干涉测量断层摄影图像数据是通过将对象暴露于由成像装置的X射线源发射的X射线射束并且在所述射束穿过所述对象之后采集的，所述断层摄影图像数据包括至少衰减数据(f)以及相位梯度数据(g)或小角度散射数据(h)中的至少一个，所述方法包括以下步骤：将至少一个各自的校正值与所述相位梯度数据(g)或者与所述小角度散射数据(h)进行组合(S445)，其中，所述各自的校正值是先前通过将函数![]()
应用于所述衰减数据(f)根据所述衰减数据(f)计算的。
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