[发明专利]用于成像和材料分析的激光器系统有效
| 申请号： | 201480056750.9 | 申请日： | 2014-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN105829844B | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | A·D·拉克可;P·德安;K·博尔特林;Y·L·里姆;T·泰姆雷;S·J·维尔松;E·H·林菲尔德;D·因德金;A·G·戴维斯 | 申请（专利权）人： | 昆士兰大学;利兹大学 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42;G01N21/3581 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 金晓 |
| 地址： | 澳大利亚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | THz量子级联激光器用于通过向目标引导来自激光器的第一激光辐射射束以由此通过第一射束与目标的相互作用产生第二激光辐射射束来研究目标。第一和第二射束的自混合发生在激光器内并且引起信号中诸如激光器的工作电压的变化。改变影响第一射束与目标的相互作用的激光器的工作参数。监测并且处理工作电压以确定与目标的材料性质相关联的相位和幅度变化。因此，在一个实施例中，本发明提供将信号中的变化处理以产生目标的各种图像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 成像 材料 分析 激光器 系统 | ||
【主权项】：
一种用于研究目标的方法，包括下列步骤：向所述目标引导来自激光器辐射的第一射束以由此通过第一射束与所述目标的相互作用来产生激光器辐射的第二射束，其中第一射束和第二射束的自混合在所述激光器内发生；改变影响所述第一射束与所述目标的所述相互作用的参数；检测由所述自混合产生的信号；以及处理所述信号以由此确定与所述目标的材料性质相关联的相位和幅度变化，以得到目标的折射率n和消光系数k。
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