[发明专利]用于增加外来物体检测环路阵列灵敏性的系统、方法及设备有效
申请号: | 201480056257.7 | 申请日: | 2014-10-17 |
公开(公告)号: | CN105637729B | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 卢卡斯·西贝尔;马塞尔·菲舍尔;汉斯彼得·威德默 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H02J50/12 | 分类号: | H02J50/12;H02J50/60;H02J50/80;B60L11/18;G01B7/00;G01R29/08;H02J50/90;H02J5/00;H02J7/02;H02J50/40 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 宋献涛 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供用于检测外来物体的系统、方法和设备。提供用于检测物体的存在的设备,其包含布置在阵列中的多个导电环路(701、702、703、704)。所述设备包含传感器电路(730),其经配置以确定与所述多个环路中的每一者相关联的特性。所述设备包含硬件处理器(734),其经配置以针对所述多个环路中的每一环路,基于与所述环路相关联的所述特性及与至少一个邻近环路相关联的所述特性而确定参数。所述硬件处理器可进一步经配置以基于所述参数而确定所述物体的所述存在。所述参数可包括以下两者的和:与所述环路相关联的所述特性及所述特性的参考值之间的差,及与所述至少一个邻近环路中的每一者相关联的所述特性及所述参考值之间的差。 1 | ||
搜索关键词: | 关联 硬件处理器 外来物体 检测 配置 邻近 传感器电路 方法和设备 导电环路 参考 灵敏性 | ||
多个导电环路,其布置在阵列中;
传感器电路,其经配置以确定与所述多个导电环路中的每一者相关联的电特性;
所述设备的特征在于,所述设备还包括:
硬件处理器,其经配置以:
针对所述多个导电环路中的每一环路,基于以下两者的和而确定参数:与所述环路相关联的所述电特性与参考值的偏差,及与至少一个邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的偏差;及
基于所述参数而确定所述物体的所述存在。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述电特性包括环路谐振频率、环路阻抗或这两者。3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述硬件处理器进一步经配置以基于所述多个导电环路的几何布置而将加权因子应用到所述偏差中的每一者。4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述硬件处理器进一步经配置以通过将所述参数确定为以下两者之间的差而补偿归因于温度而引起的与所述多个导电环路中的每一者相关联的所述电特性中的漂移:与所述环路相关联的所述电特性与所述电特性的所述参考值的所述偏差,及与所述邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的所述偏差。5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,用于所述环路的引线及用于所述邻近环路的引线大体上一起物理地布线。6.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述硬件处理器经配置以抵消与所述环路及所述邻近环路相关联的所述电特性中的共同漂移。7.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述多个导电环路不重叠。8.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述多个导电环路重叠。9.一种用于检测物体的存在的方法,其包括:确定与布置在阵列中的多个导电环路中的每一者相关联的电特性;所述方法的特征在于,所述方法还包括:
针对所述多个导电环路中的每一环路,基于以下两者的和而确定参数:与所述环路相关联的所述电特性与参考值的偏差,及与至少一个邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的偏差;及
基于所述参数而确定所述物体的所述存在。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述电特性包括环路谐振频率、环路阻抗或这两者。11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,确定所述参数包括基于所述多个导电环路的几何布置而将加权因子应用到所述偏差中的每一者。12.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,确定所述参数包括通过将所述参数确定为以下两者之间的差而补偿归因于温度而引起的与所述多个导电环路中的每一者相关联的所述电特性中的漂移:与所述环路相关联的所述电特性与所述电特性的所述参考值的所述偏差,及与所述邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的所述偏差。13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,用于所述环路的引线及用于所述邻近环路的引线大体上一起物理地布线。14.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,补偿所述漂移会抵消与所述环路及所述邻近环路相关联的所述电特性中的共同漂移。15.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述多个导电环路不重叠。16.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述多个导电环路重叠。17.一种用于检测物体的存在的设备,其包括:用于确定与布置在阵列中的多个导电环路中的每一者相关联的电特性的装置;所述设备的特征在于,所述设备还包括:
用于以下操作的装置:针对所述多个导电环路中的每一环路,基于以下两者的和而确定参数:与所述环路相关联的所述电特性与参考值的偏差,及与至少一个邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的偏差;及
用于基于所述参数而确定所述物体的所述存在的装置。
18.根据权利要求17所述的设备,其特征在于,所述电特性包括环路谐振频率、环路阻抗或这两者。19.根据权利要求17所述的设备,其特征在于,进一步包括用于以下操作的装置:通过将所述参数确定为以下两者之间的差而补偿归因于温度而引起的与所述多个导电环路中的每一者相关联的所述电特性中的漂移:与所述环路相关联的所述电特性与所述电特性的所述参考值的所述偏差,及与所述邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的所述偏差。20.根据权利要求19所述的设备,其特征在于,补偿所述电特性中的所述漂移包括抵消与所述环路及所述邻近环路相关联的所述电特性中的共同漂移。21.根据权利要求19所述的设备,其特征在于,所述多个导电环路不重叠。22.一种用于检测物体的存在的非暂时性计算机可读媒体,其具有编码在其上的指令,所述指令在被执行时致使设备:确定与布置在阵列中的多个导电环路中的每一者相关联的电特性;所述非暂时性计算机可读媒体的特征在于,所述非暂时性计算机可读媒体进一步具有编码在其上的指令,所述指令在被执行时致使所述设备:
针对所述多个导电环路中的每一环路,基于以下两者的和而确定参数:与所述环路相关联的所述电特性与参考值的偏差,及与至少一个邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的偏差;及
基于所述参数而确定所述物体的所述存在。
23.根据权利要求22所述的非暂时性计算机可读媒体,其特征在于,所述电特性包括环路谐振频率、环路阻抗或这两者。24.根据权利要求22所述的非暂时性计算机可读媒体,其特征在于,确定所述参数包括通过将所述参数确定为以下两者之间的差而补偿归因于温度而引起的与所述多个导电环路中的每一者相关联的所述电特性中的漂移:与所述环路相关联的所述电特性与所述电特性的所述参考值的所述偏差,及与所述邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的所述偏差。25.根据权利要求24所述的非暂时性计算机可读媒体,其特征在于,补偿所述漂移包括抵消与所述环路及所述邻近环路相关联的所述电特性中的共同漂移。26.根据权利要求24所述的非暂时性计算机可读媒体,其特征在于,所述多个导电环路不重叠。该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司,未经高通股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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