[发明专利]用于增加外来物体检测环路阵列灵敏性的系统、方法及设备有效
申请号: | 201480056257.7 | 申请日: | 2014-10-17 |
公开(公告)号: | CN105637729B | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 卢卡斯·西贝尔;马塞尔·菲舍尔;汉斯彼得·威德默 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H02J50/12 | 分类号: | H02J50/12;H02J50/60;H02J50/80;B60L11/18;G01B7/00;G01R29/08;H02J50/90;H02J5/00;H02J7/02;H02J50/40 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 宋献涛 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 关联 硬件处理器 外来物体 检测 配置 邻近 传感器电路 方法和设备 导电环路 参考 灵敏性 | ||
1.一种用于检测物体的存在的设备,其包括:
多个导电环路,其布置在阵列中;
传感器电路,其经配置以确定与所述多个导电环路中的每一者相关联的电特性;
所述设备的特征在于,所述设备还包括:
硬件处理器,其经配置以:
针对所述多个导电环路中的每一环路,基于以下两者的和而确定参数:与所述环路相关联的所述电特性与参考值的偏差,及与至少一个邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的偏差;及
基于所述参数而确定所述物体的所述存在。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述电特性包括环路谐振频率、环路阻抗或这两者。
3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述硬件处理器进一步经配置以基于所述多个导电环路的几何布置而将加权因子应用到所述偏差中的每一者。
4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述硬件处理器进一步经配置以通过将所述参数确定为以下两者之间的差而补偿归因于温度而引起的与所述多个导电环路中的每一者相关联的所述电特性中的漂移:与所述环路相关联的所述电特性与所述电特性的所述参考值的所述偏差,及与所述邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的所述偏差。
5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,用于所述环路的引线及用于所述邻近环路的引线大体上一起物理地布线。
6.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述硬件处理器经配置以抵消与所述环路及所述邻近环路相关联的所述电特性中的共同漂移。
7.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述多个导电环路不重叠。
8.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述多个导电环路重叠。
9.一种用于检测物体的存在的方法,其包括:
确定与布置在阵列中的多个导电环路中的每一者相关联的电特性;所述方法的特征在于,所述方法还包括:
针对所述多个导电环路中的每一环路,基于以下两者的和而确定参数:与所述环路相关联的所述电特性与参考值的偏差,及与至少一个邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的偏差;及
基于所述参数而确定所述物体的所述存在。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述电特性包括环路谐振频率、环路阻抗或这两者。
11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,确定所述参数包括基于所述多个导电环路的几何布置而将加权因子应用到所述偏差中的每一者。
12.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,确定所述参数包括通过将所述参数确定为以下两者之间的差而补偿归因于温度而引起的与所述多个导电环路中的每一者相关联的所述电特性中的漂移:与所述环路相关联的所述电特性与所述电特性的所述参考值的所述偏差,及与所述邻近环路相关联的所述电特性与所述参考值的所述偏差。
13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,用于所述环路的引线及用于所述邻近环路的引线大体上一起物理地布线。
14.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,补偿所述漂移会抵消与所述环路及所述邻近环路相关联的所述电特性中的共同漂移。
15.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述多个导电环路不重叠。
16.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述多个导电环路重叠。
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