[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201480056175.2 | 申请日: | 2014-10-21 |
公开(公告)号: | CN105637369B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 森岛大辅;前田耕史 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 范胜杰,曹鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供能够降低试剂成本的自动分析装置。因此,在每个混合试剂制作周期中,集中地制造N次分析的量的混合试剂,使用从该N次分析的量的混合试剂中分注的1次分析的量的混合试剂来分析1个检体。此时,控制部预先确定N的最小值(Nmin)和最大值(Nmax),在委托分析了J个检体的情况下,将N值确定在从Nmin到Nmax的范围内,以使混合试剂的残余最小。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种自动分析装置,使用混合多种试剂而得的混合试剂来分析检体,其特征在于,所述自动分析装置具备:混合试剂制作单元,其在每个混合试剂制作周期中将所述混合试剂集中地制作分析次数的量;以及控制部,其对所述集中制作的混合试剂确定最大值和最小值,在委托了所述集中制作的混合试剂的最大值和最小值的范围外的分析次数的情况下,将所述每个混合试剂制作周期中的所述集中制作的混合试剂确定为最大值和最小值的范围内的值,使得在检体分析结束后的混合试剂的残余量最小,所述混合试剂制作单元,在每个混合试剂制作周期中集中地制作N次分析的量的所述混合试剂,所述控制部,预先确定所述N的值的最小值Nmin和最大值Nmax,在将一次分析的量的检体设为1个而对J个检体进行了分析委托的情况下,在从Nmin到Nmax的范围内确定每个所述混合试剂制作周期的所述N的值,将每个所述混合试剂制作周期中的所述N的值确定为Nmax≥N≥Nmin中的某值,使得在结束了所述J个检体的分析之后,所述混合试剂的残余量最小,所述自动分析装置还具备反应液制作单元,其向各反应容器内分注1个检体和所述N次分析的量的混合试剂中的1次分析的量的混合试剂,所述控制部执行所述混合试剂制作周期,所述混合试剂制作周期通过如下处理而确定:使用J÷Nmax=Q×Nmax+R来计算整商Q和余数R的第一处理;在Q≥1且0<R<Nmin的第一条件的情况下,在成为所述混合试剂制作周期中的某一次的第一周期中将所述N的值确定为Nmin,在成为另外某一次的第二周期中将所述N的值确定为Nmax+R-Nmin的第二处理。
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