[发明专利]用于轴向分段正电子发射断层造影数据的方法和系统有效
| 申请号： | 201480051810.8 | 申请日： | 2014-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN105792754B | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | C·斯蒂尔恩斯 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00;G06T11/00 |
| 代理公司： | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 郑浩;姜甜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于生成正电子发射断层造影(PET)图像的方法包括：限定沿PET成像系统的检查轴具有预定长度的扫描窗，该扫描窗对应于将由PET成像系统连续扫描的感兴趣区域；限定对应于扫描窗内两个单独扫描区域的至少两个数据箱中；限定重叠扫描窗内的单独扫描区域中的每一个的一部分的过渡区域，过渡区域具有比扫描窗的长度短的宽度；将过渡区域内采集的发射数据装箱至两个数据箱中；将从过渡区域外侧采集的发射数据装箱至两个数据箱中的一个中，以及使用两个数据箱中的发射数据重建图像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 轴向 分段 正电子 发射 断层 造影 数据 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于生成正电子发射断层造影（PET）图像的方法，所述方法包括：/n限定沿PET成像系统的检查轴具有预定长度的扫描窗，所述扫描窗对应于将由所述PET成像系统连续扫描的感兴趣区域；/n限定对应于所述扫描窗内的至少两个单独扫描区域的至少两个数据箱；/n限定重叠所述两个单独扫描区域中的每一个的一部分的过渡区域，所述过渡区域具有比所述扫描窗的长度短的宽度；/n将所述过渡区域内采集的发射数据装箱至所述两个数据箱中；/n将从所述过渡区域外侧采集的发射数据装箱至所述两个数据箱的一个中，以及/n使用所述两个数据箱中的所述发射数据重建图像。/n
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