[发明专利]X射线探测有效
| 申请号： | 201480048834.8 | 申请日： | 2014-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN105580102B | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | R·K·O·贝林 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | H01J35/00 | 分类号： | H01J35/00;A61B6/00;H05G1/46 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 李光颖,王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 旋转阳极X射线管因为电子束更改旋转阳极的焦斑的表面的作用，而随时间劣化。当源被用在成像应用中时，这引起了在得到的对象图像中的劣化。讨论了一种X射线管壳体组件，其允许对这样的效应的校正。尤其是，X辐射的不被用于成像的额外的射束可以被用于校正这样的效应。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 探测 | ||
【主权项】：
一种能用于提供信号(126)的X射线管壳体组件(132)，所述X射线管壳体组件包括：‑X射线管(102)，其用于生成来自焦斑(104)的X辐射；‑参考滤波器(106)；以及‑参考探测器(108)；以及‑控制器(124)；其中，所述X辐射包括主要部分(110)和参考部分(112)，其中，所述主要部分不同于所述参考部分；其中，所述主要部分(110)和所述参考部分(112)在最小出射角(α最小,主要、α最小,参考)与最大出射角(α最大,主要、α最大,参考)之间，所述出射角是由基准平面(114)对向的始于所述焦斑(104)处的顶点的仰角；其中，所述参考部分和所述主要部分的所述最小出射角(α最小,参考、α最小,主要)彼此相等，并且所述参考部分和所述主要部分的所述最大出射角(α最大,参考、α最大,主要)彼此相等；其中，所述参考滤波器(106)被配置为在由所述参考探测器(108)对所述参考部分(112)的探测之前对所述参考部分(112)进行滤波；其中，所述参考探测器(108)被配置为探测所述参考部分(112)，以提供参考信号(125)；并且其中，所述控制器(124)被配置为基于所述参考信号来计算信号(126)。
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