[发明专利]用于偏差校准及自适应通道数据采样定位的方法有效

专利信息
申请号: 201480047940.4 申请日: 2014-04-09
公开(公告)号: CN105493434B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: M·O·詹宁斯;C·H·谢 申请(专利权)人: 赛灵思公司
主分类号: H04L7/033 分类号: H04L7/033;H04L25/06
代理公司: 北京市君合律师事务所11517 代理人: 顾云峰,吴龙瑛
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种采样偏差调整方法,该方法包括提供与输至接收器(201)的异步输入相关的边沿。波形边沿在调整范围上密集分布。扫描调整范围的至少一部分得到采样,以获得误差计数(202)。固定第一采样位置,在调整范围的至少一部分上移动第二采样位置。由扫描(203)确定阈值误比特率(“BER”)。基于参考位置确定(204)阈值BER的采样偏差的数量和方向。响应于采样偏差(205)的数量和方向,调整第一采样位置或第二采样位置,以至少减小采样偏差(205)。
搜索关键词: 偏差 校准 自适应 通道 数据 采样 定位
【主权项】:
一种用于采样偏差调整的方法,包括提供与输至接收器的异步输入相关联的波形边沿,其中所述波形边沿在一调整范围上分布;扫描所述调整范围的至少一部分,对于多个不同于第一类型的第二类型的采样位置中的每个采样位置,从第一类型的第一采样位置处的波形边沿的分布得到采样,从而获得所述调整范围的至少一部分上的多个采样位置中的每个采样位置的误差计数;其中,所述调整范围为输入比特的单位间隔;所述波形边沿以所述单位间隔的1/16或更小的分数被分隔开,以提供所述波形边沿的分布;所述第一类型的第一采样位置为数据采样位置;所述多个第二类型的采样位置为眼图扫描采样位置;采样偏差为眼图扫描采样位置到数据采样位置的偏差;所述第一采样位置是固定的;所述多个采样位置中的第二采样位置在所述调整范围的至少一部分上移动;所述扫描包括执行多个采样循环,对应于所述多个采样位置中的每个采样位置处的采样计数;由所述扫描定位阈值误比特率;基于参考位置而确定在阈值误比特率的采样偏差的数量和方向;以及响应于所述采样偏差的数量和方向,调整所述第一采样位置或所述多个采样位置中的所述第二采样位置,以至少减小所述采样偏差。
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