[发明专利]用于对用于以生成方式制造三维物体的设备进行自动校准的方法

摘要

本发明涉及一种用于对用于以生成方式制造三维物体(8)的设备进行自动校准的方法，该方法包括下述步骤通过第一扫描器(14)辐射涂覆的材料(3)层或辐射目标物，以便在材料(3)或目标物中制出第一测试图案(33)；通过第二扫描器(15)辐射涂覆的材料(3)层或辐射目标物，以便在材料(3)或目标物中制出第二测试图案(34)；通过照相机(24)检测第一和第二测试图案(33、34)并且将第一和第二测试图案(33、34)分别配置给第一和第二扫描器(14、15)；将第一和/或第二测试图案(33、34)与参考图案进行比较和/或将第一和第二测试图案(33、34)互相进行比较；确定第一测试图案(33)与参考图案的第一偏差和/或第二测试图案(34)与参考图案的第二偏差和/或第一测试图案(33)和第二测试图案(34)之间的相对偏差；并且校准第一和/或第二扫描器(14、15)，使得与参考图案的第一和/或第二偏差和/或第一测试图案(33)与第二测试图案(34)之间的相对偏差低于设定值。

主权项

用于对用于以生成方式制造三维物体(8)的设备进行自动校准的方法，所述设备包括：建构区(2)，在该建构区中能通过选择性地固化粉末状材料(3)逐层地建构物体(8)，辐射装置(9)，该辐射装置用于将电磁辐射(20、21)发射到涂覆的材料(3)层的所选区域上，该辐射装置(9)具有至少一个第一扫描器(14)和至少一个第二扫描器(15)，并且所述第一扫描器(14)辐射建构区(2)中的第一扫描区(30)并且所述第二扫描器(15)辐射建构区(2)中的第二扫描区(31)；和控制单元(7)，该控制单元用于控制所述设备，其特征在于下述步骤：通过第一扫描器(14)辐射涂覆的材料(3)层或辐射目标物，以便在材料(3)或目标物中制出第一测试图案(33)；通过第二扫描器(15)辐射涂覆的材料(3)层或辐射目标物，以便在材料(3)或目标物中制出第二测试图案(34)；通过照相机(24)检测第一和第二测试图案(33、34)并且将第一和第二测试图案(33、34)分别配置给第一和第二扫描器(14、15)；将第一和第二测试图案(33、34)互相进行比较；确定第一测试图案(33)和第二测试图案(34)之间的相对偏差；校准第一和/或第二扫描器(14、15)，使得第一测试图案(33)与第二测试图案(34)之间的相对偏差低于设定值。