[发明专利]μ子检测器阵列站有效

专利信息
申请号: 201480037496.8 申请日: 2014-04-28
公开(公告)号: CN105393111B 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: M.J.索桑;S.库马 申请(专利权)人: 决策科学国际公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈钘
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 方法、系统和设备被公开用于检测交通工具或物体中的材料。在一方面,一种用于μ子断层摄影检测的系统,包括:第一壳体结构和第二壳体结构,分别包括μ子检测传感器的第一阵列和第二阵列,第一壳体结构定位为与第二壳体结构相对且在固定高度处,以形成检测区域,以容纳目标物体,其中μ子检测传感器测量行进穿过第一阵列到检测区域和从检测区域行进穿过第二阵列的μ子的位置和方向;支撑结构,以定位第一壳体结构在固定高度处;以及处理单元,从μ子检测传感器接收数据,并分析μ子在目标物体的材料中的散射行为,以获得在检测区域中的散射中心的断层摄影图像或空间分布。
搜索关键词: 检测器 阵列
【主权项】:
1.一种用于μ子断层摄影检测的系统,具有可运动μ子检测传感器,所述系统包括:第一壳体结构,包括可移动地集成到第一壳体结构中的一个或多个μ子检测传感器的第一阵列,第一壳体结构沿与检测区域相邻的第一侧定位,所述检测区域具有容纳目标物体的空间,其中第一阵列的一个或多个μ子检测传感器测量穿过第一阵列到检测区域的μ子的位置和方向;第二壳体结构,包括可移动地集成到第二壳体结构中的一个或多个μ子检测传感器的第二阵列,第二壳体结构沿与检测区域相邻且与第一侧相对的第二侧定位,且在相距第一壳体结构的固定高度处,其中第二阵列的一个或多个μ子检测传感器测量从检测区域行进穿过第二阵列的μ子的位置和方向;一个或多个支撑结构,用于定位第一壳体结构在固定高度处;动作机构,接合到一个或多个μ子检测传感器的第一和第二阵列,以将一个或多个μ子检测传感器的第一和第二阵列在保持关于彼此的相对位置的同时相应地沿着所述第一和第二结构移动在不同位置处;处理单元,用于从一个或多个μ子检测传感器的第一和第二阵列接收测得的位置和方向的数据,且处理单元配置为分析由在检测区域中μ子在目标物体的材料中的散射导致的μ子的散射行为,以获得在检测区域中的散射中心的断层摄影图像或空间分布;以及一个或多个基准标记,其由已知材料形成并且沿着所述第一和第二阵列的μ子检测传感器的位置对准对的行进路径放置在已知位置处,其中,所述处理单元接收穿过所述基准标记的已知材料的μ子的测量位置和方向的校准数据,以使得能够识别分析的μ子的散射行为中的假阳性或假阴性。
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