[发明专利]自测试集成电路有效
| 申请号： | 201480025281.4 | 申请日： | 2014-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN105190337B | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | T·尼古因 | 申请（专利权）人： | 菲尼萨公司 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187;G01R31/3185;G01R31/319;G06F11/27 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人： | 徐金国,钟强 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在示例中，自测试集成电路(IC)包括N个通道i和控制器，其中i是从1到N的整数。每一个通道i可以包括时钟和数据恢复电路(CDR)，伪随机比特流(PRBS)生成器电路，以及PRBS检查器和目视质量监视(EQM)电路。该控制器可以被配置成在自测试期间在菊花链中有选择地耦合通道i。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 | ||
【主权项】：
一种集成电路(IC)的自测试方法，所述集成电路包括N个通道i，其中i是从1到N的整数，该方法包括：以菊花链的方式有选择地耦合通道i；在通道1中包含的第一时钟和数据恢复电路(CDR)处接收参考时钟信号；由所述第一时钟和数据恢复电路，使用所述参考时钟信号来验证所述第一时钟和数据恢复电路的时钟和数据恢复电路功能；由通道1中包含的第一伪随机比特流(PRBS)生成器电路，使用由所述第一时钟和数据恢复电路恢复的恢复时钟信号来产生PRBS信号1；由所述第一伪随机比特流生成器电路，将所述PRBS信号1输出到通道2的输入；以及对于范围从2到N的i来说：由每一个通道i，使用从所述菊花链中的前一个通道i‑1接收的PRBS信号i‑1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i‑1的至少一些功能；由每一个通道i的伪随机比特流生成器，使用从所述PRBS信号i‑1中恢复的恢复时钟信号来产生PRBS信号i；以及由每一个通道i的伪随机比特流生成器，将所述PRBS信号i输出到所述菊花链中的下一个通道i+1。
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