[发明专利]用于三维扫描的设备和系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201480024002.2 申请日: 2014-03-12
公开(公告)号: CN105164494B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: E·沃兹提;D·葛瑞万;R·K·布劳勒德里昂;G·E·富恩特斯布雷瓦;V·马连奴;S·莫斯 申请(专利权)人: 意大利希思卫电子发展股份公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01C21/16;G01S17/42;G06F3/0346
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 周磊
地址: 意大*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要: 描述一种用于对象的三维扫描的设备(1),所述设备包括检测手段(3,5,7),适于获得设备(1)的定向信息;光学手段(9),适于获得关于设备(1)在光学手段(9)的第一参照平面中的位置的平面信息;以及处理手段(11),适于分别从检测手段(3,5,7)和从光学手段(9)获取定向信息和平面信息,并且为了获得对象的三维图像的目的,处理这种信息以便获得设备(1)在与第一参照平面基本上垂直的轴上的位置的估计。
搜索关键词: 用于 三维 扫描 设备 系统 及其 方法
【主权项】:
1.一种用于对象的三维扫描的设备(1),所述设备包括:‑检测装置(3、5、7),适于获得所述设备(1)的取向信息;‑光学装置(9),适于获得关于所述设备(1)在所述光学装置(9)的第一参照平面中的位置的平面信息,所述光学装置(9)的第一参照平面保持时时与所述对象的获取表面接触并正切,所述光学装置(9)包括具有两个正交的灵敏度轴的光学传感器,所述光学传感器通过比较对象表面的两个相继获取的帧的相应点以基于由于在对象表面上滑动所述设备导致的二个维度上的位置变化来检测所述平面信息;‑处理装置(11),适于分别从所述检测装置(3、5、7)和从所述光学装置(9)获取所述取向信息和所述平面信息,处理这种信息以便获得所述设备(1)在与所述第一参照平面基本上垂直的轴上的位置的估计,从而获得所述设备(1)的移动的三维跟踪以便获得所述对象的三维图像。
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