[发明专利]用于振动仪表的仪表传感器的检验有效
| 申请号： | 201480021594.2 | 申请日： | 2014-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN105339776B | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | S.P.H.惠勒 | 申请（专利权）人： | 高准公司 |
| 主分类号： | G01N9/00 | 分类号： | G01N9/00;G01F25/00;G01F1/84;G01N11/16;G01N9/10;G01N11/00;G01N29/30;G01N29/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 申屠伟进;陈岚 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于检验振动传感器的振动仪表和方法。方法包括使用温度传感器测量多个温度和使用传感器组件测量多个传感器时间周期。确定平均温度和平均传感器时间周期。使用平均温度补偿平均传感器时间周期，从而生成经补偿的传感器时间周期。将经补偿的传感器时间周期与参考传感器时间周期比较。指示结果。在另外的实施例中，将多个温度或多个传感器时间周期的标准偏差与限制比较并且指示传感器稳定性。在另外的实施例中，使用海拔和平均温度补偿流体的所测量的密度与参考密度之间的差异。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 振动 仪表 传感器 检验 | ||
【主权项】：
1.一种用于仪表健康检验的振动元件仪表（5），所述振动元件仪表（5）包括：传感器组件（10），包括振动构件（12）、拾取/检测传感器（17）和配置成使振动构件（12）振动的驱动器（16）；至少一个温度传感器（112）；以及耦合到拾取/检测传感器（17）、驱动器（16）和所述至少一个温度传感器（112）的仪表电子器件（20），其中仪表电子器件（20）被配置成：使用所述至少一个温度传感器（112）测量多个环境空气温度和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期，其中每个传感器时间周期是谐振频率的倒数；根据所述多个温度确定平均温度；根据所述一系列传感器时间周期确定平均传感器时间周期；使用平均温度来补偿平均传感器时间周期以生成经补偿的传感器时间周期；将经补偿的传感器时间周期与参考传感器时间周期比较；以及指示经补偿的传感器时间周期是否在参考传感器时间周期的传感器时间周期误差限制内。
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