[发明专利]用于振动仪表的仪表传感器的检验

权利要求书

1.一种用于仪表健康检验的振动元件仪表（5），所述振动元件仪表（5）包括：

传感器组件（10），包括振动构件（12）、拾取/检测传感器（17）和配置成使振动构件（12）振动的驱动器（16）；

至少一个温度传感器（112）；以及

耦合到拾取/检测传感器（17）、驱动器（16）和所述至少一个温度传感器（112）的仪表电子器件（20），其中仪表电子器件（20）被配置成：使用所述至少一个温度传感器（112）测量多个环境空气温度和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期，其中每个传感器时间周期是谐振频率的倒数；根据所述多个温度确定平均温度；根据所述一系列传感器时间周期确定平均传感器时间周期；使用平均温度来补偿平均传感器时间周期以生成经补偿的传感器时间周期；将经补偿的传感器时间周期与参考传感器时间周期比较；以及指示经补偿的传感器时间周期是否在参考传感器时间周期的传感器时间周期误差限制内。

2.权利要求1的振动元件仪表（5），其中使用温度传感器（112）测量多个温度（206）和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期（207）还包括清洗传感器组件（10）。

3.权利要求1的振动元件仪表（5），其中使用温度传感器（112）测量多个温度（206）和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期（207）还包括利用环境空气填充传感器组件（10）。

4.权利要求1的振动元件仪表（5），其中使用温度传感器（112）测量多个温度（206）和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期（207）还包括将传感器组件（10）放置于真空下。

5.权利要求1的振动元件仪表（5），其中使用温度传感器（112）测量多个温度（206）和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期（207）还包括利用具有精确已知密度的流体填充传感器组件（10）或者将传感器组件插入到具有精确已知密度的流体中。

6.权利要求1的振动元件仪表（5），其中仪表电子器件（20）还被配置成：使用所述多个温度（206）和所述一系列传感器时间周期（207）之一来计算标准偏差，将标准偏差与限制比较，并且指示标准偏差是否大于限制。

7.权利要求1的振动元件仪表（5），其中仪表电子器件（20）还被配置成：接收海拔（218），并且使用海拔（218）补偿经补偿的传感器时间周期（210）。

8.权利要求7的振动元件仪表（5），其中仪表电子器件（20）还被配置成：使用传感器组件（10）测量流体的密度，并且使用海拔（218）和平均温度（208）针对参考密度（220）与所测量的密度（219）之间的密度差异补偿经补偿的传感器时间周期（210）。

9.一种用于传感器的健康检验的方法，所述方法包括以下步骤：

使用至少一个温度传感器（112）测量多个环境空气温度（206）和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期（207），其中每个传感器时间周期是谐振频率的倒数，传感器组件（10）包括振动构件（12）、拾取/检测传感器（17）和配置成使振动构件（12）振动的驱动器（16）；

根据所述多个温度（206）确定平均温度（208）；

根据所述一系列传感器时间周期（207）确定平均传感器时间周期（209）；

使用平均温度（208）来补偿平均传感器时间周期（209）以生成经补偿的传感器时间周期（210）；

将经补偿的传感器时间周期（210）与参考传感器时间周期（211）比较；以及

指示经补偿的传感器时间周期（210）是否在参考传感器时间周期（211）的传感器时间误差限制（212）内。

10.权利要求9的方法，其中测量多个温度（206）和使用传感器组件（10）测量一系列传感器时间周期（207）还包括清洗传感器组件（10）。