[发明专利]电子器件的测试头在审
| 申请号： | 201480020531.5 | 申请日： | 2014-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN105102990A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 斯太法罗·费利奇;拉斐尔·瓦劳利;罗伯特·克里帕 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 葛强;黄谦 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 意大利;IT |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明描述了一种用于电子器件的测试设备的测试头(20)，其包括多个插入导向孔的接触探针(22)，和至少一个所述探针的容纳元件(27)，导向孔实现于至少一个上导向件(23)及一个下导向件(24)中，容纳元件(27)设置于上导向件和下导向件(23,24)之间，每个接触探针(22)都具有至少一个尾部为接触尖端的端子部分(25)且从下导向件(24)伸出长度(L)，接触尖端适合邻接在待测器件的各自接触垫上，测试头还包括至少一个设置在容纳元件(27)和上导向件及下导向件(23,24)至少之一之间的间隔元件(28)，该间隔元件(28)为可移除的，以调整所述接触探针(22)的所述端子部分(25)的所述长度(L)。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 测试 | ||
【主权项】：
用于电子器件的测试设备的测试头(20)，包括多个插入导向孔的接触探针(22)，和至少一个所述探针的容纳元件(27)，所述导向孔实现于至少一个上导向件(23)及下导向件(24)中，所述容纳元件(27)设置于所述上导向件和下导向件(23,24)之间，每个所述接触探针(22)都具有至少一个尾部为接触尖端的端子部分(25)，且从所述下导向件(24)伸出长度(L)，所述接触尖端适合邻接在待测器件的各自接触垫上，其特征在于，所述测试头(20)还包括至少一个设置在所述容纳元件(27)与所述上导向件及下导向件(23,24)至少之一之间的间隔元件(28)，所述间隔元件(28)为可移除的，以调整所述接触探针(22)的所述端子部分(25)的所述长度(L)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰克诺探头公司，未经泰克诺探头公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480020531.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：输入和输出路径的扫描速度优化
- 下一篇：用于目标物的流式计量分析的新方法
