[发明专利]电子器件的测试头

权利要求书

1.用于电子器件的测试设备的测试头(20)，包括多个插入导向孔的接触探针(22)，和至少一个所述探针的容纳元件(27)，所述导向孔实现于至少一个上导向件(23)及下导向件(24)中，所述容纳元件(27)设置于所述上导向件和下导向件(23,24)之间，每个所述接触探针(22)都具有至少一个尾部为接触尖端的端子部分(25)，且从所述下导向件(24)伸出长度(L)，所述接触尖端适合邻接在待测器件的各自接触垫上，其特征在于，所述测试头(20)还包括至少一个设置在所述容纳元件(27)与所述上导向件及下导向件(23,24)至少之一之间的间隔元件(28)，所述间隔元件(28)为可移除的，以调整所述接触探针(22)的所述端子部分(25)的所述长度(L)。

2.如权利要求1所述的测试头(20)，其特征在于，所述间隔元件(28)设置于所述容纳元件(27)和所述上导向件(23)之间。

3.如权利要求1所述的测试头(20)，其特征在于，还包括适合连接所述间隔元件(28)，所述容纳元件(27)和所述上导向件或下导向件(23,24)的固定装置(29)。

4.如权利要求3所述的测试头(20)，其特征在于，每个所述固定装置(29)均包括至少一个容纳在各自螺纹孔(32)中的螺钉(31)，所述螺纹孔形成于所述上导向件或下导向件(23,24)中所述间隔元件(28)的定位点处。

5.如权利要求4所述的侧视头(20)，其特征在于，所述间隔元件(28)包括至少一个适合容纳所述螺钉(31)的孔(35)。

6.如权利要求1所述的测试头(20)，其特征在于，包括对应于所述上导向件或下导向件(23,24)的轮廓放置的多个间隔元件(28A,28B,28C,28D；28′A,28'B,28'C,28'D)。

7.如权利要求6所述的测试头(20)，其特征在于，所述多个间隔元件(28A,28B,28C,28D；28′A,28'B,28'C,28'D)以非对称的方式沿所述上导向件或下导向件(23,24)的所述轮廓放置。

8.如权利要求6所述的测试头(20)，其特征在于，包括至少四个间隔元件(28A,28B,28C,28D)，其放置于大体上呈矩形的所述上导向件或下导向件(23,24)的角区域处。

9.如权利要求6所述的测试头(20)，其特征在于，包括至少四个间隔元件(28′A，28'B,28'C,28D)，其放置于大体上呈矩形的所述上导向件或下导向件(23,24)的侧边的一个中心部分处。

10.如权利要求6所述的测试头(20)，其特征在于，包括至少四个间隔元件(28A,28B,28C,28D)，其放置于大体上呈矩形的所述上导向件及下导向件(23,24)的角区域处，以及至少其它四个间隔元件(28′A，28'B,28'C,28D)，其放置于所述上导向件及下导向件(23,24)的侧边的中心部分，且不同于所述四个间隔元件(28A,28B,28C,28D)的放置位置处。

11.如权利要求1所述的测试头(20)，其特征在于，所述间隔元件(28)由塑料制成。

12.如权利要求1所示的测试头(20)，其特征在于，所述间隔元件(28)为桨叶形，包括长形主体(33)和具有大于所述长形主体尺寸的头部(34)。

13.如权利要求1所述的测试头(20)，其特征在于，所述间隔元件(28)包括多个重叠且可单独移除的层状物(281,282,283)。

14.如权利要求13所述的测试头(20)，其特征在于，所述层状物(281,282,283)通过弱密封的粘结材料相互连接，从而能够以简单的方式使所述层状物相互分离。