[发明专利]双端口静态随机存取存储器(SRAM)有效

专利信息
申请号: 201480008974.2 申请日: 2014-02-27
公开(公告)号: CN104995686B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: P·科拉尔;G·H·潘迪亚;U·巴塔查里亚;Z·郭 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;王英
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在一个实施例中,一种用于存储数据的存储器单元电路,包括一对交叉耦合的反相器,所述一对交叉耦合的反相器用于存储所述存储器单元电路的状态。存取器件提供对所述一对交叉耦合的反相器的访问。所述存储器单元电路还包括一组电不活跃的p型金属氧化物半导体(PMOS)器件,所述一组电不活跃的p型金属氧化物半导体(PMOS)器件耦合到所述一对交叉耦合的反相器。所述一组电不活跃的PMOS器件与所述一对交叉耦合的反相器的一部分(例如,PMOS器件)组合实现用于所述存储器单元电路的连续p型扩散层。
搜索关键词: 端口 静态 随机存取存储器 sram
【主权项】:
1.一种用于存储数据的存储器单元电路,包括:一对交叉耦合的反相器,所述一对交叉耦合的反相器用于存储所述存储器单元电路的状态;多个存取器件,所述多个存取器件耦合到所述一对交叉耦合的反相器,所述多个存取器件用以提供对所述一对交叉耦合的反相器的访问;以及一组电不活跃的p型金属氧化物半导体(PMOS)器件,所述一组电不活跃的p型金属氧化物半导体(PMOS)器件耦合到所述一对交叉耦合的反相器,所述一组电不活跃的PMOS器件与所述一对交叉耦合的反相器的一部分组合,以实现用于所述存储器单元电路的连续p型扩散层,其中,第一电不活跃的PMOS器件的栅极耦合到第二电不活跃的PMOS器件的栅极。
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