[实用新型]一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具

摘要

本实用新型公开了一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，包括长度检测块、长检槽A、长检槽B、宽检块A、宽检块B、高检块A、高检块B、检测底座、手环上盖、定位螺孔；所述长度检测块上设有长检槽A和长检槽B，所述宽度检测块包括宽检块A和宽检块B，所述宽检块A和宽检块B下侧加工有左入块和右入块，所述高度检测块包括高检块A和高检块B，检测底座中部对称设置有定位螺孔；本新型对手环上盖的长度、宽度、高度进行检测，制定长宽高尺寸公差的上限标准块和下限标准块，分别对手环上盖的尺寸形位进行快速检测，从而简化了检测操作，提高了检测的精度和效率，避免了检测对产品的损伤，节省了检测时间，有利于大批量产品全检。

主权项

一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，简称形位检具；其特征在于，包括长度检测块、长检槽A、长检槽B、宽检块A、宽检块B、高检块A、高检块B、检测底座、手环上盖、定位螺孔；所述形位检具包括长度检测块、宽度检测块、高度检测块、检测底座；所述形位检具为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形体，所述长度检测块上同向设置有长检槽A和长检槽B，所述长检槽A的长度设置为手环上盖的上限长度，所述长检槽B的长度设置为手环上盖的下限长度；所述宽度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造，所述宽度检测块为矩形板，包括宽检块A和宽检块B，所述宽检块A和宽检块B其下侧加工有槽口，所述槽口将所述宽检块A和宽检块B分为左入块和右入块，所述左入块的宽度为手环上盖的下限宽度尺寸，所述右入块的宽度为手环上盖的上限宽度尺寸；所述宽检块A为一倍公差检测块，所述宽检块B为二倍公差检测块；所述高度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形板，其下侧面开设有矩形槽口，所述高度检测块包括高检块A和高检块B，所述高检块A和高检块B的矩形槽口二侧设置有定位螺孔；所述高度检测块与检测底座配合使用，检测底座中部对称设置有定位螺孔，所述定位螺孔与所述高检块A和高检块B上的定位螺孔位置、尺寸匹配设置；所述高检块A和高检块B通过螺栓与所述检测底座固定连接；所述高检块A的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的上限尺寸；所述高检块B的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的下限尺寸。