[实用新型]一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统有效
| 申请号： | 201420820436.0 | 申请日： | 2014-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN204514568U | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 丑小全;焦巧利;李华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型属于光学测试领域，具体涉及一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统。该系统包括第一经纬仪、第二经纬仪、旋转平台以及自准直测角光管；具体的测量方法是：1)获取目标光束的第一位置；2)获取目标光束的第二位置；3)根据目标光束在自准直测角光管上的第一位置和第二位置的距离计算萨格纳克干涉仪两臂角度误差；通过使用本实用新型的系统和方法大大提高了萨格纳克干涉仪两臂角度误差的测量精度，并且系统结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 萨格纳克 干涉仪 角度 误差 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统，其特征在于：包括第一经纬仪、第二经纬仪、旋转平台以及自准直测角光管；所述第一经纬仪发出的目标光束入射至萨格纳克干涉仪经萨格纳克干涉仪两臂反射后出射至第二经纬仪的像面上；所述自准直测角光管面向第二经纬仪设置，使得进入第二经纬仪的目标光束能够成像在自准直测角光管的像面上；所述旋转平台的旋转轴心位于第一经纬仪光轴与萨格纳克干涉仪中分光面的交点上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420820436.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
