[实用新型]一种测试装置及包括其的测试系统

摘要

本实用新型提供一种测试装置，其包括：多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。多个测试点与多个反馈点均位于TFT基板上。基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，多个反馈探针与多个测试探针分别与多个反馈点和多个测试点一一对应。信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，判断信号输出端、多个反馈探针、多个反馈点及信号接收端组成了反馈回路。本实用新型还提供一种测试系统。本实用新型的测试装置及包括其的测试系统，根据反馈回路的导通来判断多个测试探针与多个测试点是否一一准确对位，避免了TFT基板电极烧坏，成本低。

主权项

一种测试装置，用于测试TFT基板上的电极，其特征在于，所述测试装置包括：多个测试点，所述多个测试点均位于所述TFT基板上；多个反馈点，所述多个反馈点均设置在所述TFT基板上；基座，所述基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，且所述多个反馈探针和所述多个测试探针通过基座联动的，同时所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应，所多个测试探针与所述多个测试点一一对应；以及信号发生器，包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，所述判断信号输出端、所述多个反馈探针、所述多个反馈点及所述信号接收端组成了反馈回路；其中，所述判断信号输出端用于输出判断信号至一个反馈探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应电连接，所述反馈回路导通，所述测试信号输出端输出测试信号至所述多个测试探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点未一一对应电连接，所述反馈回路断开，所述测试信号输出端停止输出所述测试信号至所述多个测试探针。