[实用新型]一种测试装置及包括其的测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种测试装置及包括其的测试系统。

背景技术

由于液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)，相较于传统的阴极射线管具有节能、轻薄等优点，LCD被广泛应用于监视面板、手机面板等电子领域。

通常LCD的TFT基板上设置有像素电极，且随着用户对显示画面高清晰度的要求，TFT基板上设置的像素电极分布密集，因此各像素电极之间容易发生短路或者断路。

现有技术中采用Cell手动点灯方法来检测TFT基板上的像素电极之间是否短路或者断路。Cell手动点灯方法指的是工作人员将要测试的TFT基板放置在工作台上，将机台上的测试探针下压使其与TFT基板上的测试点接触，然后信号发生器向测试探针发射测试信号，测试探针接收测试信号，并将其输送至TFT基板，此时观察LCD面板的显示画面，若LCD面板显示画面异常，则TFT基板的像素电极之间存在短路或是断路。但是在Cell手动点灯方法中，由于探针的磨损以及工作人员在放置TFT基板过程中不小心造成的TFT基板偏移，将导致TFT基板的测试点与测试探针不能准确对位，进而将TFT基板的像素电极烧坏。此外，由于在探针下压过程中需要特殊机台进行操作，因此制作成本高。

因此，需要提供一种TFT基板电极的测试装置，其可以解决测试过程中TFT基板的测试点与测试探针能准确对位以及制作成本高的问题。

实用新型内容

鉴于以上问题，本实用新型提供一种测试装置，用于测试TFT基板上的电极，所述测试装置包括多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。所述多个测试点均位于所述TFT基板上。所述多个反馈点均设置在所述TFT基板上。所述基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应，所多个测试探针与所述多个测试点一一对应，且所述多个反馈探针和所述多个测试探针通过基座联动的。所述信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，所述判断信号输出端、所述多个反馈探针、所述多个反馈点及所述信号接收端组成了反馈回路。其中，所述判断信号输出端用于输出判断信号至一个反馈探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应电连接，所述反馈回路导通，所述测试信号输出端输出测试信号至所述多个测试探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点未一一对应电连接，所述反馈回路断开，所述测试信号输出端停止输出所述测试信号至所述多个测试探针。

本实用新型还提供一种测试系统，包括上述的测试装置，所述测试装置用于测试TFT基板上的电极，所述测试装置包括多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。所述多个测试点均位于所述TFT基板上。所述多个反馈点均设置在所述TFT基板上。所述基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应，所多个测试探针与所述多个测试点一一对应。所述信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，所述判断信号输出端、所述多个反馈探针、所述多个反馈点及所述信号接收端组成了反馈回路。其中，所述判断信号输出端用于输出判断信号至一个反馈探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应电连接，所述反馈回路导通，所述测试信号输出端输出测试信号至所述多个测试探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点未一一对应电连接，所述反馈回路断开，所述测试信号输出端停止输出所述测试信号至所述多个测试探针。

本实用新型的测试装置及包括其的测试系统，根据多个反馈点、多个反馈探针及信号发生器组成的反馈回路是否导通来判断多个测试探针与多个测试点是否一一准确对位，若反馈回路断开，则多个测试点与多个测试探针对位不准确，信号发生器停止发送测试信号至多个测试探针，进而避免了TFT基板电极烧坏，且成本低。

附图说明

图1为本实用新型的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。

图1为本实用新型的测试装置的结构示意图。如图1所示，测试装置包括多个并联的测试点10(图中仅示出6个)、多个串联的反馈点12(图中仅示出2个)、基座14及信号发生器16。多个测试点10与多个反馈点12均位于TFT基板(图中未示出)上，且基座14设置有联动的多个反馈探针18(图中仅示出2个)和多个测试探针20(图中仅示出6个)，且多个反馈探针18与多个反馈点12一一对应，多个测试探针20与多个测试点10一一对应。