[实用新型]对点测量装置有效

专利信息
申请号: 201420582657.9 申请日: 2014-10-09
公开(公告)号: CN204240898U 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 邹春英;王佳;袁征 申请(专利权)人: 常州西夏墅工具产业创业服务中心
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 肖兴江
地址: 213000 江苏省常*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 对点测量装置,包括半圆框架,调整杆和定点顶针,所述的半圆框架至少有两个,所述的调整杆至少有两个,调整杆均通过通孔连接在所述的半圆框架上,所述的调整杆上设有紧固螺丝,所述的紧固螺丝分别位于调整杆与半圆框架交叉位置和其底部,位于调整杆与半圆框架交叉处的紧固螺丝穿透通孔壁并抵住半圆框架,位于调整杆底部的紧固螺丝穿透调整杆连通凹陷孔,所述的半圆框架的横轴上设有刻度尺。本实用新型提出的对点测量装置能测出处于不同平面上的两个点的距离,克服了直尺测量的缺陷,具有实用性。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
对点测量装置,包括半圆框架、调整杆和定点顶针,其特征在于:所述的半圆框架至少有两个,所述的调整杆至少有两个,所述的调整杆通过通孔与半圆框架连接,调整杆底部还设有凹陷孔,所述的定点顶针插在凹陷孔内,所述的调整杆上还设有紧固螺丝,所述的紧固螺丝分别位于调整杆与半圆框架的交叉处和调整杆底部,位于调整杆与半圆框架交叉处的紧固螺丝穿透通孔壁并抵住半圆框架,位于调整杆底部的紧固螺丝穿透调整杆连通凹陷孔,所述的半圆框架的横轴上设有刻度尺。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州西夏墅工具产业创业服务中心,未经常州西夏墅工具产业创业服务中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201420582657.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top